Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Микроскоп Близко-Поля Скеннирования WITEC alpha300 S Оптически

Alpha300 S Микроскоп дружественного Близко-Поля Скеннирования Оптически (SNOM) тот зернокомбайны в уникально путе преимущества SNOM, Confocal Микроскопии и Атомной Микроскопии Усилия в одиночной аппаратуре. Переключать между различными режимами может легко быть сделан путем поворачивать объективную башенку. Alpha300 S использует уникально микро--изготовленные SNOM-консольные датчики для оптически микроскопии с пространственным разрешением под пределом огибания.

Конструкция Микроскопа Близко-Поля Скеннирования alpha300 S Оптически отличает Confocal Микроскопом (CM), Микроскопом Близко-Поля Скеннирования Оптически (SNOM) и Атомным Микроскопом Усилия (AFM) в одиночной аппаратуре. просто поворачивать объективную башенку, пользователь может выбрать от среди Confocal Микроскопии, SNOM или AFM.

Для просматривая микроскопии близко-поля оптически, alpha300 S использует уникально и запатентованные микро--изготовленные Консольные SNOM-датчики которые значительно делают стандартные зонды лучше оптического волокна в разрешении, передаче, легкости деятельности и надежности.

Консольное, использующ солидный принцип отклонения электронного луча для управления расстояния, характеристики полая пирамидка с апертурой на своей вершине. Это позволяет топографии и оптически изображениям, котор нужно приобрести одновременно.

Last Update: 14. January 2014 05:47

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment