Analysegerät Netzsch BENACHTEILIGTEN GEBIETES 457 MicroFlash Thermal

Das NETZSCH BENACHTEILIGTE GEBIET 457 MicroFlash® stimmt mit der spätesten Technologie für moderne Laser-Blinkenanlagen überein. BENACHTEILIGTES GEBIET 457 MicroFlash® erlaubt Maße von -125°C zu 1100°C unter Verwendung zwei verschiedener Benutzer-austauschbarer Öfen.

Die innovative Infrarotsensortechnik, die in der Anlage eingesetzt wird, aktiviert Maß des Temperaturanstiegs auf der hinteren Oberfläche der Probe, sogar bei den Temperaturen von -125°C.

BENACHTEILIGTES GEBIET 457 MicroFlash® kann für kleines verwendet werden und große Stichprobengrößen von Durchmesser und, mit dem integrierten Beispielwechsler, von Maßen von bis 25,4 mm können auf einigen Proben gleichzeitig ausgeführt werden.

Die Vakuum-feste Auslegung aktiviert Prüfungen unter definierten Atmosphären.

Die vertikale Anordnung für die Beispielhalterung, den Ofen und den Detektor vereinfacht Beispielplatzierung und, da keine Spiegel verwendet werden, garantiert einem optimalen störsignalisierenden Verhältnis des Detektorsignals.

Die umfassendste Software BENACHTEILIGTEN GEBIETES einschließlich patentierte Lösungen für Abbilden und Bewertungsprogramme Laserpulse für die einzelnen und mehrschichtigen Proben beendet diese grelle Ausbreitungsvermögenallgemeinhinanlage.

Das BENACHTEILIGTE GEBIET 457 MicroFlash® ist die aktuellste und vielseitigste Anlage BENACHTEILIGTEN GEBIETES für Forschung und Entwicklung und für alle Anwendungen, die Kennzeichnung des Standards und der Hochleistungsmaterialien in Automobilherstellungs-, -luftfahrt-, -astronautik- und -energietechnologie mit einbeziehen.

Last Update: 9. April 2013 12:31

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