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Netzsch LFA 457 MicroFlash の上昇温暖気流の検光子

Netzsch LFA 457 MicroFlash の上昇温暖気流の検光子

NETZSCH LFA 457 MicroFlash は®現代レーザーのフラッシュシステムのための最新の技術に従います。 LFA 457 MicroFlash は® 2 つのユーザー交換可能な炉を使用して -125°C からの 1100°C に測定を可能にします。

システムで用いられる革新的な赤外線センサー技術は -125°C. の温度でサンプルの背部表面の温度の増加の測定を、可能にします。

LFA 457 MicroFlash は®小さいに使用し、 25.4 まで mm の直径そして、統合されたサンプルチェンジャーと、測定の大きいサンプルの大きさは複数のサンプルで同時に実行することができます。

真空堅いデザインは定義された大気の下でテストを可能にします。

サンプルホールダー、炉および探知器の縦の整理はサンプル配置を簡素化し、ミラーが使用されないので、探知器のシグナルの最適信号対雑音比を保証します。

単一および多層サンプルのマップし、鑑定ルーチン Laserpulse のための特許を取られた解決を含む広範囲 LFA のソフトウェアはこのユニバーサルフラッシュ拡散係数システムを完了します。

LFA 457 MicroFlash は®研究開発と自動車製造業、航空学、宇宙航行学およびエネルギー技術で標準および高性能材料の性格描写を含むすべてのアプリケーションのための最新および最も多目的な LFA システムです。

主技術的なデータ

  • 温度較差: -125°C への 500°C、 RT への 1100°C、 (2 つの交換可能な炉のタイプ)
  • 熱し、冷却レート: 0.01 50 K/min への K/min
  • レーザーのパルスエネルギー: 18 まで J/pulse、 (調節可能な力)
  • 測定範囲: 0.01 mm2/s から 1000 mm2/s (温度伝導率)
  • 測定範囲: 0.1 2000 W/mK (熱伝導度) への W/mK
  • サンプル次元: 10 の mm から 25.4 mm の直径 (また 8x8 mm および 10x10 mm の正方形) 0.1 mm から厚さ 6 つの mm の
  • サンプルホールダー: SiC のグラファイトの液体の金属のホールダー: サファイア - 液体のためのサンプルホールダー: プラチナ
  • 大気: の、ダイナミックな空電減る酸化不活性
  • 真空堅いアセンブリ - 10-2 までの mbar (1 Pa)

液体のサンプルホールダー - ケイ素のグリース

多くのアプリケーションは高い絶縁耐力、優秀な熱安定性、低い蒸発、 inertness および湿気および耐食性を保障するためにシリコーングリースを利用します。 シリコーングリースは優秀な注油の特性が長い一定期間の間必要となるアプリケーションでも使用されます。 それは保護層のために潤滑油として、プラスチックおよびゴム材料、弁および O リングの潤滑油、密封剤、電気絶縁体およびはく離剤利用されます。 アプリケーションを食品包装および処理することで、これらの特性は食糧が付いている付帯的な接触の間に潤滑油としてシリコーングリースを使用するために重要です。

器械使用およびテスト条件

定義されたサンプル厚さは LFA の測定のために必要です。 この厚さはのりおよび液体のための一義的なサンプルホールダーを通して得られます。 余分容器の部品を通ってアルミニウムふたおよびるつぼからの熱の転送を説明するためには、 3 層の分析はケイ素のグリースの温度伝導率を測定するように用いられました。 この 3 層の分析はソフトウェアで統合されます。 使用された器械は LFA 457 MicroFlash でした® テスト条件は下記のようにリストされています:

温度較差 -40°C… 100°C
サンプルホールダー 液体のための Al/stainless の鋼鉄
サンプル厚さ 0.500 mm
サンプル生地ごしらえ -
標準p DSC からの c サファイア

結果

温度からのほぼ線形依存関係はケイ素のグリースの thermophysical 特性のために識別されました。 上昇の熱伝導度および上昇温度はこれらの種類の材料の特性です。 DSC システムが比熱を定めるのに使用されました。

例ははっきり LFA 方法が定義された次元の固体材料に限定されないことを示したものです。 可能な数学 (3 層の分析) とともに精密で、有名な次元の液体のサンプルホールダーを使用して、のり/液体の測定は高精度と近いうちに可能です。

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