Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Netzsch LFA 457 Thermische Analysator MicroFlash

NETZSCH LFA 457 MicroFlash® voldoet aan de recentste technologie voor de moderne systemen van de laserflits. LFA 457 MicroFlash® staat metingen van -125°C aan 1100°C toe gebruikend twee verschillende gebruiker-ruilbare ovens.

De innovatieve infrarode sensortechnologie die in het systeem wordt aangewend laat meting van de temperatuurverhoging op de achteroppervlakte van de steekproef, zelfs bij temperaturen van -125°C. toe.

LFA 457 MicroFlash® kan voor kleine en grote steekproefgrootte van zelfs 25.4 mmdiameter worden gebruikt en, met de geïntegreerde steekproefwisselaar, kunnen de metingen op verscheidene steekproeven tezelfdertijd worden in werking gesteld.

Het vacuüm-strakke ontwerp laat tests onder bepaalde atmosferen toe.

De verticale regeling van de steekproefhouder, de oven en de detector vereenvoudigt steekproefplaatsing en, aangezien geen spiegels worden gebruikt, waarborgt een optimale signal-to-noise verhouding van het detectorsignaal.

De uitvoerigste LFA software met inbegrip van gepatenteerde oplossingen voor afbeelding Laserpulse en evaluatieroutines voor enige en multilayer steekproeven voltooit dit universele systeem van de flitsvluchtigheid.

LFA 457 MicroFlash® is het meest bijgewerkte en veelzijdige LFA systeem voor onderzoek en ontwikkeling en voor alle toepassingen die karakterisering van standaard en krachtige materialen in automobiele productie, luchtvaartkunde, ruimtevaart en technologie op energiegebied impliceren.

Last Update: 9. April 2013 12:30

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment