Malvern からの Morphologi G3 の粒度および粒子の形の検光子

Malvern からの Morphologi G3 の粒度および粒子の形の検光子

捜しているあります:

  • サンプル分散からの十分に自動化され、適用範囲が広い解決データ解析にか。
  • 粒子のより詳しい知識彼らはどのように処理の間に動作し、か。
  • 開発からの微粒子材料のよりよい理解生産にか。
  • 最小のユーザーの介在を用いる 1 つの測定の統計的に重要な良質の粒度そして形情報か。
  • 品質意図的におよび PAT のための新しいツールか。
  • 顕微鏡検査を自動化するセービングの時間および労働は働きますか。
  • 他の粒子のサイジングの技術を認可するツールか。

新しい Morphologi の G3 によって自動化される粒子の性格描写システムはあなたが捜している答えを提供できる新しく分析的なツールです。 システムは統計的に重要な粒子の形および粒度の測定と良質の画像を結合します。

小説の十分に統合乾燥した粉の分散システムはサンプル準備時間を減らし、かなり測定の反復性を改善します。

強力で、直観的なデータ解析のツールは測定データからほとんどを得ることを保障します。

  • 粒度の測定: 完全な粒度全体の高リゾリューションを (0.5µm - 3000µm) Morphologi G3 正確に計算します円の同等の直径パラメータを使用して粒度の測定を及んで下さい保障する異なった拡大を使用して。
  • 粒子の形の測定: 延長のような粒子の形パラメータの範囲、環状および凸状は計算されます。 これらのパラメータは粒子のサイズだけ技術に別の方法で見えないサンプル間の微妙な相違が、識別され、量を示されるようにします。
  • 粒子カウントおよび外国の粒子の検出: サンプルの各粒子がそれぞれ測定され、記録することができるという事実は画像解析システムがある特定のタイプの外国の粒子の検出の目的のための粒子を - 例えば数えることを可能にします。

Morphologi G3 一目で:

  • 十分に統合された乾燥した粉のかくはん機: 小説の十分に統合乾燥した粉の分散システムはサンプル準備時間を減らし、かなり測定の反復性を改善します
  • 統計的な重大さ: たくさんのマウスの単一クリックの粒子の 100 つを分析して下さい!
  • これ以上のユーザーバイアス: 標準操作手順の (SOP)アプローチはすべての器械の変数 (焦点、輝度、拡大等) が客観的に記録され、制御されるようにします。 1 つの器械で開発される方法は単一ファイルでそれから世界中から電子的に転送することができます。
  • 良質の画像を保存して下さい: あらゆる個々の粒子の画像を見、記録する機能は壊れた粒子、集塊、罰金、外国の粒子等の存在のような現象の視覚確認を可能にします。
  • 正確、反復可能 「validatable」: 画像解析システムが NPL (国立物理学研究所) に追跡可能な複数のピッチの火格子を付けることを使用してあらゆる粒子の分析の前後に自動的に目盛りを付けるデータ保全を保障するため。 画像検光子は 21CFR 部分 11 の条件に合致し、完全な IQ/OQ (インストール修飾/操作上の修飾) ドキュメンテーションは使用できます。

Last Update: 25. September 2013 10:32

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