Morphologi G3 从 Malvern 的颗粒大小和微粒形状分析程序

Morphologi G3 从 Malvern 的颗粒大小和微粒形状分析程序

是您寻找:

  • 从范例散射的一个通过充分地自动化的和灵活的解决方法对数据分析?
  • 在处理期间,您的微粒更加详细的知识和他们如何正常运行?
  • 对您从发展的属于颗粒的材料的更好的了解通过对生产?
  • 统计上重大的优质颗粒大小和形状信息在一个评定与最小的用户干预?
  • 为质量故意地和帕特的一套新工具?
  • 自动化您的显微学的节省额时间和人工运作?
  • 验证其他微粒大小技术的工具?

新的 Morphologi G3 自动化的微粒描述特性系统是可能提供答复您寻找的一个新的分析工具。 这个系统与统计上重大的微粒形状和颗粒大小评定结合优质图象。

小说充分地集成的干燥粉末散射系统减少范例准备时间和极大改进评定的反复性。

强大和直观数据分析工具保证您使多数脱离您的评定数据。

  • 颗粒大小评定: 使用保证不同的放大在充分的颗粒大小中的高分辨率请排列 (0.5µm - 3000µm) 使用圈子等同的直径参数, Morphologi G3 准确地计算颗粒大小评定。
  • 微粒形状评定: 微粒形状参数的范围例如伸长,环状和凸形被计算。 这些参数允许是否则无形的对微粒范围技术的范例之间的细微的区别,被识别和被定量。
  • 微粒计数和外部微粒检测: 这个情况在这个范例的每个微粒可以单个被评定和被记录例如使图象分析系统计数微粒的某些类型 - 为外部微粒检测。

Morphologi G3 一览:

  • 充分地集成干燥粉末分散: 小说充分地集成的干燥粉末散射系统减少范例准备时间和极大改进评定的反复性
  • 统计意义: 分析 100 千位与这个鼠标的唯一单击的微粒!
  • 没有用户偏心: 标准操作程序 (SOP)途径允许所有仪器变量 (重点、光强度,放大等) 客观地被记录和被控制。 在一台仪器开发的方法在一个单一文件可能世界各地电子上然后调用。
  • 保存优质图象: 这个能力发现和记录每个单个微粒的图象启用现象的视觉核实例如残破的微粒、块集岩、好,外部微粒等出现。
  • 准确,可重复和 ‘validatable’ : 保证图象分析系统自动地校准在每个微粒分析前后使用多间距磨碎可追踪对 NPL 的数据完整性 (国家物理实验室)。 图象分析仪依照 21CFR 部分 11 需求,并且充分的 IQ/OQ (安装鉴定/可操作的鉴定) 说明文件是可用的。

Last Update: 25. September 2013 10:30

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