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JPK 儀器 Nanotracker 光學鑷子和微粒跟蹤系統

JPK 儀器 Nanotracker 光學鑷子和微粒跟蹤系統

NanoTracker™ 2 是為敏感處理在研究級別被倒置的光學顯微鏡基礎上和設計的一個光學鑷子平臺,強制和跟蹤實驗。

NanoTracker™ 2,這個用戶在實時能捕捉和從幾的跟蹤微粒 µm 下來到 30nm 以這個能力控制,操作和觀察範例與毫微米精確度和 femtoNewton 解決方法。

NanoTracker™技術提供精密地微粒細胞交往的可計量和再現評定。 這個系統提供關於唯一分子技工的準確的信息,并且可能也使用確定機械特性例如黏附力、彈性或者僵硬在唯一分子。

關鍵功能

  • 3D 與 femto 牛頓區分和子 nm 精確度的強制評定
  • 最準確的評定的高穩定性和最低噪聲的級別
  • 同時熒光想像
  • 強大,靈活的控制和數據分析軟件
  • 被確認的選件類 1 激光
  • 範圍從單一分子的應用的靈活,模塊設計到活細胞

Last Update: 1. May 2013 05:44

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