Site Sponsors
  • New HD-AFM Mode; Your Path to Controlling Forces for Precise Material Properties
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Asylum Research manufactures advanced Atomic Force/Scanning Probe Microscopy instruments and accessories
Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • NanoTest Vantage a complete nanomechanical and nanotribological test solution

Sistemas Park XE-HDM revisión automática de defectos Microscopio de Fuerza Atómica

XE-HDM es un defecto de revisión automática de AFM que revoluciona la forma de defectos en los sustratos de discos duros y medios de comunicación se buscan, escaneados y analizados. La nueva XE-HDM aumenta significativamente el rendimiento del proceso de revisión defecto, la prueba se ejecuta con defectos reales demuestran más de 500 a 800% de ganancia en el rendimiento en comparación con otros métodos de revisión de defectos.

Artefacto libre de Metrología por diafonía eliminación

  • Dos independientes, de circuito cerrado XY y Z flexión escáneres para la muestra y la punta
  • Plana y lineal XY exploración de 100 m x 100 m con el arco residual de baja
  • De movimiento en el plano de menos de 2 nm en el rango de exploración completa
  • Mediciones precisas característica con la industria líder de calibre sigma
  • Herramienta superior a la herramienta de correspondencia

Consejo ya la vida por la verdad sin contacto Modo

  • 10 veces más grande Z-scan de ancho de banda de un piezotube
  • 10 veces o más vida de la punta para uso general y defectos de imagen
  • Menor desgaste de la punta prolongada de alta calidad y alta resolución de imagen
  • Muestra minimizado el daño o modificación
  • La inmunidad de los resultados de los parámetros que dependen de observar en el aprovechamiento de imágenes

Revisión automática de defectos de los medios de comunicación y Sustratos

  • Los resultados completos de automatización en 500 ~ 800% de ganancia en el rendimiento
  • Permite a los usuarios para gestionar varias herramientas al mismo tiempo
  • Transferencia del ELK Tencor Candela defecto mapas de XE-HDM
  • Escaneo automatizado de los defectos de la encuesta asignada por Candela
  • Automatizado zoom-in de exploración de los defectos especificados
  • Perfiles automatizados de tipos de defectos imágenes
  • El análisis automatizado de los defectos de imágenes

Last Update: 10. October 2011 13:20

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment