Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Microscope Atomique de Force de Révision Automatique de Défaut des Systèmes XE-HDM de Parc

XE-HDM est une révision automatique AFM de défaut qui révolutionne les défauts de voie en substrats de HDD et des medias sont recherchés, balayés, et analysés. Le XE-HDM neuf augmente de manière significative le débit pour le procédé de révision de défaut ; les essais avec les défauts réels expliquent plus de gain de 500 - de 800% dans le débit en comparaison avec d'autres méthodes de révision de défaut.

Métrologie Libre d'Artefact par Élimination d'Interférence

  • Indépendant Deux, balayeurs en boucle bloquée DE X/Y et de Z de flexure pour l'échantillon et l'extrémité
  • Échographie DE X/Y Plate et linéaire 100 du µm du µm X 100 avec la proue bas résiduelle
  • Hors du mouvement plat de moins de 2 nanomètre au-dessus de l'échographie entière s'échelonnent
  • Mesures Précises de caractéristique technique avec le principal sigma d'outil d'industrie
  • Outil Supérieur pour usiner apparier

Une Plus Longue Durée De Vie d'Extrémité par Véritable Mode De non contact

  • plus grande largeur de bande de Z-Échographie une de 10 fois qu'un piezotube
  • 10 fois ou plus longue durée de vie d'extrémité pour la représentation d'usage universel et de défaut
  • Moins d'usure d'extrémité pour la représentation de haute qualité et à haute résolution prolongée
  • Les dégâts ou modification Réduits À Un Minimum d'échantillon
  • Immunité des résultats paramètre-dépendants observés dans la représentation de filetage

Révision Automatique de Défaut pour des Medias et des Substrats

  • La Pleine automatisation a comme conséquence le gain de 500~800% dans le débit
  • Permet à des utilisateurs de manager plusieurs outils simultanément
  • Le défaut de Bougie du Transfert KLA Tencor trace à XE-HDM
  • Échographie Robotisée d'étude des défauts tracés par Bougie
  • Automatisé zoom-dans l'échographie des défauts spécifiques
  • Profilage Robotisé des types imagés de défaut
  • Analyse Robotisée des défauts imagés

Last Update: 15. July 2013 04:41

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment