Microscopio Atomico della Forza di Rassegna Automatica di Difetto dei Sistemi XE-HDM della Sosta

Microscopio Atomico della Forza di Rassegna Automatica di Difetto dei Sistemi XE-HDM della Sosta

XE-HDM è un esame automatico AFM di difetto che rivoluziona i difetti di modo in substrati di HDD ed i media sono cercati, scanditi e sono analizzati. Il nuovo XE-HDM aumenta significativamente la capacità di lavorazione per il trattamento di esame di difetto; le esecuzioni dei test con i difetti reali dimostrano oltre aumento di 800% - di 500 della capacità di lavorazione in paragone ad altri metodi di esame di difetto.

Metrologia Libera del Artefatto dall'Eliminazione di Interferenza

  • Indipendente Due, scanner a circuito chiuso di Z e DI X-Y di flessione per il campione ed il suggerimento
  • Una scansione DI X-Y Piana e lineare 100 del µm del µm x 100 con la prua in basso residua
  • Da moto piano di meno di 2 nanometro sopra l'intera scansione variano
  • Misure Accurate della funzionalità con il sigma leader del settore del calibro
  • Strumento Superiore alla corrispondenza dello strumento

Vita Più Lunga del Suggerimento dal Vero Modo Senza contatto

  • più grande di 10 volte larghezza di banda di Z-Scansione che un piezotube
  • 10 volte o vita più lunga del suggerimento per rappresentazione di difetto & di uso generale
  • Meno usura del suggerimento per rappresentazione di alta qualità ed ad alta definizione prolungata
  • Danno o modifica Minimizzato del campione
  • Immunità dai risultati parametro-dipendenti osservati nella rappresentazione di spillatura

Rassegna Automatica di Difetto per i Media ed i Substrati

  • L'automazione Completa provoca l'aumento di 500~800% della capacità di lavorazione
  • Permette che gli utenti gestiscano simultaneamente parecchi strumenti
  • Il difetto di Candela di Trasferimento KLA Tencor mappa a XE-HDM
  • Scansione Automatizzata di indagine dei difetti mappati dalla Candela
  • Automated zumma la scansione dei difetti specificati
  • Delineamento Automated dei tipi imaged di difetto
  • Analisi Automatizzata dei difetti imaged

Last Update: 15. July 2013 04:43

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