Site Sponsors
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Microscoop van de Kracht van de Systemen van het Park de xe-BIO Atoom

XE-bio is krachtige 3 in-1 hulpmiddel van het nanoscienceonderzoek dat uniek het enige Ware niet-Contact AFM van de industrie met de IonenMicroscopie van het Geleidingsvermogen en (ICM) omgekeerde optische microscoop op het zelfde platform combineert. Het modulaire ontwerp van XE-Bio staat gemakkelijke uitwisseling tussen niet-contact AFM en ICM toe. Ontworpen voor niet-invasieve in-vloeibare weergave, maakt het gecombineerde weergavevermogen van AFM, ICM, en de omgekeerde optische microscopie XE-Bioideal voor weergave biologische steekproeven, zoals levende cellen, in dynamische voorwaarden. Voorts kan ICM worden aangepast om een gastheer van krachtige toepassingen in nanoscaleelektrofysiologie toe te laten.

Krachtige 3 in-1 Hulpmiddel van het Onderzoek Nanoscale met Modulair Platform

  • De Ware Microscoop van de Kracht van het niet-Contact Atoom (AFM)
  • De Ionen Microscoop van het Geleidingsvermogen (ICM)
  • Omgekeerde Optische Microscoop

Uiteindelijke Afm- Resolutie door de Ware Wijze van het niet-Contact

  • 10 keer grotere z-Aftasten bandbreedte dan een piezotube
  • Minder uiteindeslijtage voor verlengde hoogstaande en high-resolution weergave
  • Geminimaliseerde steekproefschade of wijziging
  • Immuniteit van parameter-afhankelijke resultaten die in het onttrekken van weergave worden waargenomen
  • Enige molecule de kracht-Afstand spectroscopie met geautomatiseerde gegevensanalyse

Niet-invasieve in-Vloeibare Weergave door ICM

  • De Controle van ionenkanalen van enige levende cellen
  • Uniek functioneel vermogen van gerichte gelokaliseerde stimulatie
  • Laat nanoscale flard-vastklemt voor elektrofysiologie toe
  • Milieu kamer voor temperatuur, pH, en vochtigheidscontrole

Volledig Geïntegreerde Omgekeerde Optische Microscoop

  • Compatibel Systeem met fasecontrast en weergave DIC
  • Ook compatibel systeem met de fluorescentiemicroscopie
  • De Geavanceerde functies van de beeldbekleding

Last Update: 15. July 2013 04:39

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment