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AtomKraft-Mikroskop Park Anlagen-XE-70

XE-70 ist Lösung des FLUGHANDBUCHS der Park-Anlagen für Forscher mit begrenztem Budget. XE-70 kompromittiert nicht irgendwelche der innovativen Technologien der XE-Serien, die Sets es abgesehen von herkömmlichem AFMs, die gleichen Modi, Optionen und Elektronik die alle weiteren Anlagen in der XE-Produktlinie unterstützend.

Artefakt Freie Darstellung durch Übersprechen-Beseitigung

  • Unabhängiger Zwei, Regel-X-Y- und Z-Biegungsscanner für Probe und Spitze
  • Flacher und linearer X-Yscan von bis µm 100 µm x 100 mit niedrig Restbogen
  • Aus flachem Antrag von heraus weniger als 2 nm über gesamtem Arbeitsbereich
  • Bis 25 µm Z-Scan durch hohen Kraftscanner
  • Genaue Höhenmessungen

Entscheidende FLUGHANDBUCH-Auflösung durch Wahren Berührungsfreien Modus

  • 10mal größere Z-Scan Bandweite als ein piezotube
  • Weniger Spitzenabnützung für verlängerte hochwertige und hochauflösende Darstellung
  • Herabgesetzter Beispielschaden oder -modifikation
  • Immunität von den Parameter-abhängigen Ergebnissen beobachtet in klopfender Darstellung

Benutzer Bequemlichkeit durch EZ-Auslegung

  • Öffnen Sie Seitenzugriff für einfachen Beispiel- oder Spitzenaustausch
  • Schwalbenschwanz-Verriegelung Befestigung für einfachen Hauptausbau
  • Direkte Aufschwerpunkt Optik für optische Betrachtung der hohen Auflösung

Last Update: 15. July 2013 04:42

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