XE-70 es solución del AFM del Parque de los Sistemas para los investigadores con el presupuesto limitado. XE-70 no compromete las tecnologías innovadoras unas de los de las XE-series que los conjuntos él aparte de AFMs convencional, utilizando los mismos modos, opciones, y electrónica que el resto de los sistemas en la línea de productos de XE.
Proyección De Imagen Libre del Artefacto por la Eliminación de la Diafonía
- Independiente Dos, analizadores XY y de Z a circuito cerrado de la flexión para la muestra y la punta
- Exploración XY Plana y lineal hasta 100 del µm del µm x 100 con el arqueamiento bajo residual
- Fuera del movimiento plano de menos de 2 nanómetro sobre la exploración entera colocan
- Z-Exploración de Hasta 25 µm por el alto analizador de la fuerza
- Mediciones Exactas de la altura
Resolución Final del AFM por Modo Sin contacto Verdadero
- una anchura de banda de 10 veces más grande de la Z-Exploración que un piezotube
- Menos desgaste de la punta para la proyección de imagen de alta calidad y de alta resolución prolongada
- Daño o modificación Disminuido de la muestra
- Inmunidad de los resultados parámetro-relacionados observados en proyección de imagen que golpea ligeramente
Conveniencia del Utilizador por Diseño de EZ
- Abra el acceso lateral para el intercambio fácil de la muestra o de la punta
- montaje del Cola de milano-Bloqueo para el retiro principal fácil
- La óptica Directa de en-AXIS para la visión óptica de alta resolución