Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Microscopio Atómico de la Fuerza de los Sistemas XE-70 del Parque

XE-70 es solución del AFM del Parque de los Sistemas para los investigadores con el presupuesto limitado. XE-70 no compromete las tecnologías innovadoras unas de los de las XE-series que los conjuntos él aparte de AFMs convencional, utilizando los mismos modos, opciones, y electrónica que el resto de los sistemas en la línea de productos de XE.

Proyección De Imagen Libre del Artefacto por la Eliminación de la Diafonía

  • Independiente Dos, analizadores XY y de Z a circuito cerrado de la flexión para la muestra y la punta
  • Exploración XY Plana y lineal hasta 100 del µm del µm x 100 con el arqueamiento bajo residual
  • Fuera del movimiento plano de menos de 2 nanómetro sobre la exploración entera colocan
  • Z-Exploración de Hasta 25 µm por el alto analizador de la fuerza
  • Mediciones Exactas de la altura

Resolución Final del AFM por Modo Sin contacto Verdadero

  • una anchura de banda de 10 veces más grande de la Z-Exploración que un piezotube
  • Menos desgaste de la punta para la proyección de imagen de alta calidad y de alta resolución prolongada
  • Daño o modificación Disminuido de la muestra
  • Inmunidad de los resultados parámetro-relacionados observados en proyección de imagen que golpea ligeramente

Conveniencia del Utilizador por Diseño de EZ

  • Abra el acceso lateral para el intercambio fácil de la muestra o de la punta
  • montaje del Cola de milano-Bloqueo para el retiro principal fácil
  • La óptica Directa de en-AXIS para la visión óptica de alta resolución

Last Update: 15. July 2013 04:49

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment