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Microscope Atomique de Force des Systèmes XE-70 de Parc

XE-70 est solution de l'AFM de Parc des Systèmes pour des chercheurs avec le budget limité. XE-70 ne compromet pas des technologies novatrices l'unes des de la XE-suite qui des positionnements il indépendamment d'AFMs conventionnel, supportant les mêmes modes, options, et électronique que tous autres systèmes dans la ligne de produits de XE.

Représentation Libre d'Artefact par Élimination d'Interférence

  • Indépendant Deux, balayeurs en boucle bloquée DE X/Y et de Z de flexure pour l'échantillon et l'extrémité
  • Échographie DE X/Y Plate et linéaire jusqu'à 100 du µm du µm X 100 avec la proue bas résiduelle
  • Hors du mouvement plat de moins de 2 nanomètre au-dessus de l'échographie entière s'échelonnent
  • Z-Échographie de Jusqu'à 25 µm par le balayeur élevé de force
  • Mesures Précises de hauteur

Définition Éventuelle d'AFM par Véritable Mode De non contact

  • plus grande largeur de bande de Z-Échographie une de 10 fois qu'un piezotube
  • Moins d'usure d'extrémité pour la représentation de haute qualité et à haute résolution prolongée
  • Les dégâts ou modification Réduits À Un Minimum d'échantillon
  • Immunité des résultats paramètre-dépendants observés dans la représentation de filetage

Confort D'utilisation d'Utilisateur par Design d'EZ

  • Ouvrez l'accès latéral pour l'échange facile d'échantillon ou d'extrémité
  • support de Butée-Verrou pour le démontage principal facile
  • Bloc optique Direct de sur-axe pour le visionnement optique de haute résolution

Last Update: 15. July 2013 04:41

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