Microscopio Atomico della Forza dei Sistemi XE-70 della Sosta

XE-70 è soluzione del AFM della Sosta dei Sistemi per i ricercatori con il bilancio limitato. XE-70 non ne compromette c'è ne delle tecnologie innovarici delle XE-serie che insiemi oltre a AFMs convenzionale, supportante gli stessi modi, opzioni ed elettronica come tutti i altri sistemi nella serie di prodotti di XE.

Rappresentazione Libera del Artefatto dall'Eliminazione di Interferenza

  • Indipendente Due, scanner a circuito chiuso di Z e DI X-Y di flessione per il campione ed il suggerimento
  • Scansione DI X-Y Piana e lineare fino a 100 del µm del µm x 100 con la prua in basso residua
  • Da moto piano di meno di 2 nanometro sopra l'intera scansione variano
  • Una Z-Scansione di Fino a 25 µm dall'alto scanner della forza
  • Misure Accurate di altezza

Ultima Risoluzione del AFM dal Vero Modo Senza contatto

  • più grande di 10 volte larghezza di banda di Z-Scansione che un piezotube
  • Meno usura del suggerimento per rappresentazione di alta qualità ed ad alta definizione prolungata
  • Danno o modifica Minimizzato del campione
  • Immunità dai risultati parametro-dipendenti osservati nella rappresentazione di spillatura

Convenienza dell'Utente da Progettazione di EZ

  • Apra l'accesso laterale per lo scambio facile del suggerimento o del campione
  • supporto del Coda di rondine-Blocco per rimozione capa facile
  • Ottica Diretta di su asse per la visualizzazione ottica di alta risoluzione

Last Update: 15. July 2013 04:43

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