XE-70 è soluzione del AFM della Sosta dei Sistemi per i ricercatori con il bilancio limitato. XE-70 non ne compromette c'è ne delle tecnologie innovarici delle XE-serie che insiemi oltre a AFMs convenzionale, supportante gli stessi modi, opzioni ed elettronica come tutti i altri sistemi nella serie di prodotti di XE.
Rappresentazione Libera del Artefatto dall'Eliminazione di Interferenza
- Indipendente Due, scanner a circuito chiuso di Z e DI X-Y di flessione per il campione ed il suggerimento
- Scansione DI X-Y Piana e lineare fino a 100 del µm del µm x 100 con la prua in basso residua
- Da moto piano di meno di 2 nanometro sopra l'intera scansione variano
- Una Z-Scansione di Fino a 25 µm dall'alto scanner della forza
- Misure Accurate di altezza
Ultima Risoluzione del AFM dal Vero Modo Senza contatto
- più grande di 10 volte larghezza di banda di Z-Scansione che un piezotube
- Meno usura del suggerimento per rappresentazione di alta qualità ed ad alta definizione prolungata
- Danno o modifica Minimizzato del campione
- Immunità dai risultati parametro-dipendenti osservati nella rappresentazione di spillatura
Convenienza dell'Utente da Progettazione di EZ
- Apra l'accesso laterale per lo scambio facile del suggerimento o del campione
- supporto del Coda di rondine-Blocco per rimozione capa facile
- Ottica Diretta di su asse per la visualizzazione ottica di alta risoluzione