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公園システム XE-70 原子力の顕微鏡

XE-70 は限られた予算を持つ研究者のための公園システム AFM の解決です。 XE-70 はセット XE の製品種目の同じモード、オプションおよび電子工学を他のすべてのシステムサポートする慣習的な AFMs から離れてそれ XE シリーズの革新的な技術のうちのどれも妥協しません。

混線除去による人工物の自由なイメージ投射

  • サンプルおよび先端のための 2 独立、クローズド・ループ X-Y および Z のたわみのスキャンナー
  • 低く残りの弓が付いている 100 まで µm X の 100 µm の平らな、線形 X-Y スキャン
  • 平らな動きからの全体のスキャンに 2 つ以下 nm 及びます
  • 高い力のスキャンナーによる 25 までの µm Z スキャン
  • 正確な高さの測定

本当の無接触モードによる最終的な AFM の解像度

  • 10 piezotube より倍大きい Z スキャン帯域幅
  • 延長された良質および高解像イメージ投射のためのより少ない先端の摩耗
  • 最小化されたサンプル損傷か修正
  • 叩くイメージ投射で観察されるパラメータ依存した結果からの免除

EZ デザインによるユーザーの便利

  • 容易なサンプルまたは先端交換のための側面アクセスを開いて下さい
  • 容易なヘッド取り外しのためのありロックの台紙
  • 高リゾリューションの光学観覧のための直接オン軸線の光学

Last Update: 15. July 2013 04:44

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