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公园系统 XE-70 基本强制显微镜

XE-70 是公园系统的研究员的 AFM 解决方法有有限预算值的。 XE-70 不减弱其中任一集它除常规 AFMs 外,支持模式、选项和电子和一样其他系统在 XE 产品线 XE 串联的创新技术。

由干扰清除的人工制品自由想象

  • 二独立,闭环 X - Y 和 Z 弯曲扫描程序范例和技巧的
  • 100 与低残余的弓的 µm x 100 µm 平面和线性 X - Y 的扫描
  • 出于平面行动少于 2 毫微米在整个扫描排列
  • 由高强制扫描程序的 25 µm Z 扫描
  • 准确高度评定

由真的没有接触的模式的最终 AFM 解决方法

  • 10 次更大的 Z 扫描带宽比 piezotube
  • 长时期的优质和高分辨率想象的较少技巧穿戴
  • 减到最小的范例故障或修改
  • 从在开发的想象观察的参数从属的结果的免疫

由 EZ 设计的用户便利

  • 开张容易的范例或技巧替换的副存取
  • 容易的顶头删除的鸠尾榫锁定挂接
  • 高分辨率光学查看的直接在轴光学

Last Update: 15. July 2013 04:37

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