公園系統 XE-70 基本強制顯微鏡

XE-70 是公園系統的研究員的 AFM 解決方法有有限預算值的。 XE-70 不減弱其中任一集它除常規 AFMs 外,支持模式、選項和電子和一樣其他系統在 XE 產品線 XE 串聯的創新技術。

由干擾清除的人工製品自由想像

  • 二獨立,閉環 X - Y 和 Z 彎曲掃描程序範例和技巧的
  • 100 與低殘餘的弓的 µm x 100 µm 平面和線性 X - Y 的掃描
  • 出於平面行動少於 2 毫微米在整個掃描排列
  • 由高強制掃描程序的 25 µm Z 掃描
  • 準確高度評定

由真的沒有接觸的模式的最終 AFM 解決方法

  • 10 次更大的 Z 掃描帶寬比 piezotube
  • 長時期的優質和高分辨率想像的較少技巧穿戴
  • 減到最小的範例故障或修改
  • 從在開發的想像觀察的參數從屬的結果的免疫

由 EZ 設計的用戶便利

  • 開張容易的範例或技巧替換的副存取
  • 容易的頂頭刪除的鳩尾榫鎖定掛接
  • 高分辨率光學查看的直接在軸光學

Last Update: 15. July 2013 04:38

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