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AtomKraft-Mikroskop Park Anlagen-XE-100 mit Schritt-und-Scan Automatisierung

Das XE-100 ist unser Flaggschiff FLUGHANDBUCH mit verringerter Drift und der Schritt-und-Scan Automatisierung, die die entscheidende AFM-/SPMleistung in Berührungsfreier nanoscale Metrologie liefert. Es ist eine mittel-veranschlagte Anlage für Materialwissenschaft, Polymere, Elektrochemie und andere Anwendungen im nanoscience und in der Technik. Es kann eine große Auswahl der optischen Kupplung mit seinem offenen Seitenzugriff annehmen.

Artefakt Freie Darstellung durch Übersprechen-Beseitigung

  • Unabhängiger Zwei, Regel-X-Y- und Z-Biegungsscanner für Probe und Spitze
  • Aus flachem Antrag von heraus weniger als 2 nm über gesamtem Arbeitsbereich
  • Flacher und linearer X-Yscan von bis µm 100 µm x 100 mit niedrig Restbogen
  • Bis 25 µm Z-Scan durch hohen Kraftscanner
  • Genaue Höhenmessungen
  • Verringerte Drift von weniger als 0,5 nm/min

Entscheidende FLUGHANDBUCH-Auflösung durch Wahren Berührungsfreien Modus

  • 10mal größere Z-Scan Bandweite als ein piezotube
  • Weniger Spitzenabnützung für verlängerte hochwertige und hochauflösende Darstellung
  • Herabgesetzter Beispielschaden oder -modifikation
  • Immunität von den Parameter-abhängigen Ergebnissen beobachtet in klopfender Darstellung

Benutzer Bequemlichkeit durch EZ-Auslegung

  • Breiter freier Zugang zur Spitze und zur Probe
  • Schnellspitzenaustausch u. EZ-Laserstrahlausrichtung
  • Schwalbenschwanz-Verriegelung Befestigung für einfachen Hauptausbau
  • Direkte Aufschwerpunkt Optik für optische Betrachtung der hohen Auflösung
  • Motorisierte Optikstufe

Volle Options-Kompatibilität mit Modularer Plattform

  • Volle SPM-Modi und -optionen
  • Öffnen Sie Seitenzugriff für optische Kupplung
  • Motorisierte Beispielstufe mit Schritt-und-Scan automatisierten Maßen

Last Update: 15. July 2013 04:42

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