Die XE-100 ist unser Flaggschiff AFM mit reduzierter Driftrate und der Step-and-Scan Automation, dass die ultimative AFM / SPM Leistung in Non-Contact nanoskaligen Messtechnik bietet. Es ist ein im mittleren Preissegment für Materialwissenschaften, Polymere, Elektrochemie und andere Anwendungen in der Nanowissenschaft und Engineering. Es kann zu erlassen eine breite Palette von optischen Kopplung mit seiner offenen Seite zuzugreifen.
Artifact Kostenloses Imaging von Crosstalk Elimination
- Zwei unabhängige, closed-loop XY und Z Biegung Scanner für Probe und Spitze
- Aus Bewegung in der Ebene von weniger als 2 nm über den gesamten Scan-Bereich
- Flach und linear XY-Scan von bis zu 100 um x 100 um mit geringen Rest-Bogen
- Bis zu 25 um Z-Scan durch hohe Kraft-Scanner
- Genaue Höhenmessungen
- Reduzierte Drift von weniger als 0,5 nm / min
Ultimative AFM Auflösung von True Non-Contact-Modus
- 10-mal größer Z-Scan-Bandbreite als ein piezotube
- Weniger Kappenverschleiß für längere hochwertige und hochauflösende Bildgebung
- Minimierte Probe Beschädigung oder Veränderung
- Immunität von der Parameter-abhängige Ergebnisse bei der Erschließung Bildgebung beobachtet
Benutzerkomfort durch EZ Gestaltung
- Große Open-Access an der Spitze und Probe
- Snap Spitze Austausch & EZ Laser Strahlausrichtung
- Schwalbenschwanz-Lock-Halterung für einfache Kopf entfernt
- Direkte on-axis-Optik für hochauflösende optische Anzeige
- Motorisierte Optik Bühne
Full Option Kompatibilität mit Modular Platform
- Vollständige SPM-Modi und Optionen
- Öffnen seitlichen Zugang für optische Kopplung
- Motorisierter Probentisch mit Step-and-Scan automatisierte Messungen