Microscopio Atómico de la Fuerza de los Sistemas XE-100 del Parque con la Automatización de la Paso de progresión-y-Exploración

El XE-100 es nuestro buque insignia AFM con tipo reducido de la desviación y la Automatización de la Paso de progresión-y-Exploración que proporciona al funcionamiento final de AFM/SPM en metrología Sin contacto del nanoscale. Es un sistema mediados de-valorado para la ciencia material, los polímeros, la electroquímica y otras aplicaciones en nanoscience y la ingeniería. Puede adoptar una amplia gama de acoplamiento óptico con su acceso lateral abierto.

Proyección De Imagen Libre del Artefacto por la Eliminación de la Diafonía

  • Independiente Dos, analizadores XY y de Z a circuito cerrado de la flexión para la muestra y la punta
  • Fuera del movimiento plano de menos de 2 nanómetro sobre la exploración entera colocan
  • Exploración XY Plana y lineal hasta 100 del µm del µm x 100 con el arqueamiento bajo residual
  • Z-Exploración de Hasta 25 µm por el alto analizador de la fuerza
  • Mediciones Exactas de la altura
  • Índice Reducido de la desviación de menos de 0,5 nm/min

Resolución Final del AFM por Modo Sin contacto Verdadero

  • una anchura de banda de 10 veces más grande de la Z-Exploración que un piezotube
  • Menos desgaste de la punta para la proyección de imagen de alta calidad y de alta resolución prolongada
  • Daño o modificación Disminuido de la muestra
  • Inmunidad de los resultados parámetro-relacionados observados en proyección de imagen que golpea ligeramente

Conveniencia del Utilizador por Diseño de EZ

  • Acceso Abierto de par en par a la punta y a la muestra
  • Intercambio Rápido de la punta y alineación De rayo láser de EZ
  • montaje del Cola de milano-Bloqueo para el retiro principal fácil
  • La óptica Directa de en-AXIS para la visión óptica de alta resolución
  • Escenario Motorizado de la óptica

Compatibilidad Completa de la Opción con la Plataforma Modular

  • Modos Completos y opciones de SPM
  • Abra el acceso lateral para el acoplamiento óptico
  • Escenario Motorizado de la muestra con mediciones automatizadas Paso de progresión-y-Exploración

Last Update: 15. July 2013 04:49

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment