Microscopio Atomico della Forza dei Sistemi XE-100 della Sosta con Automazione di Punto-e-Scansione

Il XE-100 è la nostra nave ammiraglia AFM con la velocità di deriva diminuita e l'Automazione di Punto-e-Scansione che fornisce l'ultima prestazione di AFM/SPM in metrologia Senza contatto del nanoscale. È un sistema mezzo fissato il prezzo di per scienza dei materiali, i polimeri, l'elettrochimica ed altre applicazioni in nanoscience e nell'assistenza tecnica. Può adottare una vasta gamma di accoppiamento ottico con il suo accesso laterale aperto.

Rappresentazione Libera del Artefatto dall'Eliminazione di Interferenza

  • Indipendente Due, scanner a circuito chiuso di Z e DI X-Y di flessione per il campione ed il suggerimento
  • Da moto piano di meno di 2 nanometro sopra l'intera scansione variano
  • Scansione DI X-Y Piana e lineare fino a 100 del µm del µm x 100 con la prua in basso residua
  • Una Z-Scansione di Fino a 25 µm dall'alto scanner della forza
  • Misure Accurate di altezza
  • Velocità di deriva Diminuita di meno di 0,5 nm/min

Ultima Risoluzione del AFM dal Vero Modo Senza contatto

  • più grande di 10 volte larghezza di banda di Z-Scansione che un piezotube
  • Meno usura del suggerimento per rappresentazione di alta qualità ed ad alta definizione prolungata
  • Danno o modifica Minimizzato del campione
  • Immunità dai risultati parametro-dipendenti osservati nella rappresentazione di spillatura

Convenienza dell'Utente da Progettazione di EZ

  • Accesso Spalancato al suggerimento ed al campione
  • Scambio del suggerimento & allineamento Improvvisi del Raggio laser di EZ
  • supporto del Coda di rondine-Blocco per rimozione capa facile
  • Ottica Diretta di su asse per la visualizzazione ottica di alta risoluzione
  • Fase Motorizzata di ottica

Compatibilità Completa di Opzione con la Piattaforma Modulare

  • Modi Completi ed opzioni di SPM
  • Apra l'accesso laterale per l'accoppiamento ottico
  • Fase Motorizzata del campione con le misure automatizzate Punto-e-Scansione

Last Update: 15. July 2013 04:43

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