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公園システム XE-100 ステップおよびスキャンオートメーションの原子力の顕微鏡

XE-100 は減らされたドリフトのレートおよび無接触 nanoscale の度量衡学の最終的な AFM/SPM パフォーマンスを提供するステップおよびスキャンオートメーションの私達の旗艦 AFM です。 それは nanoscience および工学の物質科学、ポリマー、電気化学および他のアプリケーションのための中間値を付けられたシステムです。 それは開いた側面アクセスを用いる光学カップリングの広い範囲を採用できます。

混線除去による人工物の自由なイメージ投射

  • サンプルおよび先端のための 2 独立、クローズド・ループ X-Y および Z のたわみのスキャンナー
  • 平らな動きからの全体のスキャンに 2 つ以下 nm 及びます
  • 低く残りの弓が付いている 100 まで µm X の 100 µm の平らな、線形 X-Y スキャン
  • 高い力のスキャンナーによる 25 までの µm Z スキャン
  • 正確な高さの測定
  • より少しにより 0.5 nm/min の減らされたドリフトのレート

本当の無接触モードによる最終的な AFM の解像度

  • 10 piezotube より倍大きい Z スキャン帯域幅
  • 延長された良質および高解像イメージ投射のためのより少ない先端の摩耗
  • 最小化されたサンプル損傷か修正
  • 叩くイメージ投射で観察されるパラメータ依存した結果からの免除

EZ デザインによるユーザーの便利

  • 先端およびサンプルへの十分に開いたアクセス
  • 急な先端交換及び EZ のレーザ光線のアラインメント
  • 容易なヘッド取り外しのためのありロックの台紙
  • 高リゾリューションの光学観覧のための直接オン軸線の光学
  • モーターを備えられた光学段階

モジュラープラットホームとの完全なオプションコンパティビリティ

  • 完全な SPM モードおよびオプション
  • 光学カップリングのための側面アクセスを開いて下さい
  • ステップおよびスキャンによって自動化される測定を用いるモーターを備えられたサンプル段階

Last Update: 15. July 2013 04:44

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