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Microscópio Atômico da Força dos Sistemas XE-100 do Parque com Automatização da Etapa-e-Varredura

O XE-100 é nossa capitânia AFM com taxa reduzida da tracção e a Automatização da Etapa-e-Varredura que fornece o desempenho final de AFM/SPM na metrologia do nanoscale do Não-Contacto. É um sistema meados de-fixado o preço para a ciência de materiais, os polímeros, a electroquímica e as outras aplicações no nanoscience e na engenharia. Pode adotar uma vasta gama de acoplamento óptico com seu acesso lateral aberto.

Imagem Lactente Livre do Produto Manufacturado pela Eliminação da Interferência

  • Independente Dois, circuito fechado XY e varredores do flexure de Z para a amostra e a ponta
  • Fora do movimento plano de menos de 2 nanômetro sobre a varredura inteira variam
  • Varredura XY Lisa e linear até 100 do µm do µm x 100 com curva baixo residual
  • Z-Varredura de Até 25 µm pelo varredor alto da força
  • Medidas Exactas da altura
  • Taxa Reduzida da tracção de menos de 0,5 nm/min

Definição Final do AFM pelo Modo Verdadeiro do Não-Contacto

  • largura de faixa de 10 vezes maior da Z-Varredura do que um piezotube
  • Menos desgaste da ponta para a imagem lactente de alta qualidade e de alta resolução prolongada
  • Dano ou alteração Minimizada da amostra
  • Imunidade dos resultados parâmetro-dependentes observados na imagem lactente de batida

Conveniência do Usuário pelo Projecto de EZ

  • Acesso aberto Largo à ponta e à amostra
  • Troca da ponta & alinhamento Instantâneos do Raio laser de EZ
  • montagem do Ensamblagem-Fechamento para a remoção principal fácil
  • Sistema ótico Directo da em-linha central para a visão óptica de alta resolução
  • Fase Motorizada do sistema ótico

Compatibilidade Completa da Opção com Plataforma Modular

  • Modos Completos e opções de SPM
  • Abra o acesso lateral para o acoplamento óptico
  • Fase Motorizada da amostra com medidas automatizadas Etapa-e-Varredura

Last Update: 15. July 2013 04:47

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