XE-100 是我们的有减少的偏差费率和在没有接触的 nanoscale 计量学方面提供最终 AFM/SPM 性能的步骤和扫描自动化的旗舰 AFM。 它是材料学、聚合物、电化学和其他应用的一个中间定价的系统在 nanoscience 和工程。 它可能采用与其开放副存取的各种各样的光学联结。
由干扰清除的人工制品自由想象
- 二独立，闭环 X - Y 和 Z 弯曲扫描程序范例和技巧的
- 出于平面行动少于 2 毫微米在整个扫描排列
- 100 与低残余的弓的 µm x 100 µm 平面和线性 X - Y 的扫描
- 由高强制扫描程序的 25 µm Z 扫描
- 准确高度评定
- 少于 0.5 nm/min 的减少的偏差费率
由真的没有接触的模式的最终 AFM 解决方法
- 10 次更大的 Z 扫描带宽比 piezotube
- 长时期的优质和高分辨率想象的较少技巧穿戴
- 减到最小的范例故障或修改
- 从在开发的想象观察的参数从属的结果的免疫
由 EZ 设计的用户便利
- 对技巧和范例的大开存取
- 短冷期技巧替换 & EZ 激光对准线
- 容易的顶头删除的鸠尾榫锁定挂接
- 高分辨率光学查看的直接在轴光学
- 动力化的光学阶段
与模件平台的充分的选项兼容性
- 充分的 SPM 模式和选项
- 开张光学联结的副存取
- 与步骤和扫描自动化的评定的动力化的范例阶段