XE - 100是我們與漂移率降低的旗艦原子力顯微鏡和步進掃描自動化，提供了終極的AFM / SPM非接觸式納米計量性能。這是一個中等價位的系統，材料科學，高分子材料，電化學和其他應用程序在納米科學和工程。它可以通過一個廣泛的光電耦合與它的開放端訪問。
串音消除神器免費成像
- 兩個獨立的閉環 XY和Z軸彎曲樣品和針尖掃描儀
- 出平面小於 2納米在整個掃描範圍內的議案
- 平面和直線 XY掃描可達 100微米× 100微米，低殘留弓
- 高達 25微米高力掃描器 Z -掃描
- 準確的高度測量
- 減少漂移率小於 0.5納米 /分鐘
真正的非接觸式的終極原子力顯微鏡的分辨率
- 10次較大的Z -掃描帶寬比piezotube
- 長時間的高品質和高清晰度成像針尖的磨損少
- 最小樣品的損壞或修改
- 從參數依賴於攻成像觀測結果的豁免權
簡易設計方便用戶
- 針尖與樣品敞開訪問
- SNAP提示交換和EZ激光束對準
- 燕尾鎖裝載容易頭去除
- 直接軸光學高分辨率光學觀景
- 電動光學階段
模塊化平台的全部股權兼容性
- 全面的SPM模式和選項
- 光耦合的開放端訪問
- 機動步驟和掃描自動測量樣品階段