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公园系统 XE-120 基本强制显微镜

采取得奖的 XE-100,收缩它这样它可以被安置在许多普遍的被倒置的光学显微镜顶部,并且您有多才多艺的 XE-120、例外 AFM 与膨胀的范例和互动灵活性。 XE-120 是与行业的唯一的真的没有接触的模式想象的研究等级 AFM 航空和液体想象的。 灵活配置允许与其他先进的光学计量技术的综合化例如喇曼分光学。

由干扰清除的人工制品自由想象

  • 二独立,闭环 X - Y 和 Z 弯曲扫描程序范例和技巧的
  • 出于平面行动少于 2 毫微米在整个扫描排列
  • 100 与低残余的弓的 µm x 100 µm 平面和线性 X - Y 的扫描
  • 由高强制扫描程序的 25 µm Z 扫描
  • 准确高度评定

由真的没有接触的模式的最终 AFM 解决方法

  • 10 次更大的 Z 扫描带宽比 piezotube
  • 长时期的优质和高分辨率想象的较少技巧穿戴
  • 减到最小的范例故障或修改
  • 从在开发的想象观察的参数从属的结果的免疫

由 EZ 设计的用户便利

  • 开张容易的范例或技巧替换的副存取
  • 容易的顶头删除的鸠尾榫锁定挂接
  • 高分辨率光学查看的直接在轴光学
  • 动力化的光学阶段

先进的光学综合化和选项兼容性

  • 集成与被倒置的光学显微镜
  • 严密的机械联结产生非常好的噪声性能
  • 与反映和传输光学查看兼容
  • 开张光学联结的副存取例如 TERS 的喇曼分光学
  • 存取对所有先进的 SPM 模式和选项

Last Update: 15. July 2013 04:37

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