公園系統 XE-120 基本強制顯微鏡

採取得獎的 XE-100,收縮它這樣它可以被安置在許多普遍的被倒置的光學顯微鏡頂部,并且您有多才多藝的 XE-120、例外 AFM 與膨脹的範例和互動靈活性。 XE-120 是與行業的唯一的真的沒有接觸的模式想像的研究等級 AFM 航空和液體想像的。 靈活配置允許與其他先進的光學計量技術的綜合化例如喇曼分光學。

由干擾清除的人工製品自由想像

  • 二獨立,閉環 X - Y 和 Z 彎曲掃描程序範例和技巧的
  • 出於平面行動少於 2 毫微米在整個掃描排列
  • 100 與低殘餘的弓的 µm x 100 µm 平面和線性 X - Y 的掃描
  • 由高強制掃描程序的 25 µm Z 掃描
  • 準確高度評定

由真的沒有接觸的模式的最終 AFM 解決方法

  • 10 次更大的 Z 掃描帶寬比 piezotube
  • 長時期的優質和高分辨率想像的較少技巧穿戴
  • 減到最小的範例故障或修改
  • 從在開發的想像觀察的參數從屬的結果的免疫

由 EZ 設計的用戶便利

  • 開張容易的範例或技巧替換的副存取
  • 容易的頂頭刪除的鳩尾榫鎖定掛接
  • 高分辨率光學查看的直接在軸光學
  • 動力化的光學階段

先進的光學綜合化和選項兼容性

  • 集成與被倒置的光學顯微鏡
  • 嚴密的機械聯結產生非常好的噪聲性能
  • 與反映和傳輸光學查看兼容
  • 開張光學聯結的副存取例如 TERS 的喇曼分光學
  • 存取對所有先進的 SPM 模式和選項

Last Update: 15. July 2013 04:38

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