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PI P-736 PInano ™ Z, Z-Piezo scanner per diapositive, Microscopia 3D & SR Microscopia

Il nuovo PInano ™ Z basso profilo piezo fasi Z sono ottimizzati per passo molto veloce e regolare e facile integrazione in applicazioni ad alta risoluzione microscopio. Sono dotati di un profilo molto basso di 0,8 "(20 mm), una grande apertura, e gli intervalli di viaggiare fino a 200 micron con sub-nanometrica a ciclo chiuso risoluzione ideale per all'avanguardia microscopia e le applicazioni di imaging. Massima durata è garantita da il sistema integrato di ceramica incapsulato Picma ® attuatori piezoelettrici. A causa della resistenza all'umidità significativamente più alto, il sistema brevettato Picma ® Design fornisce fino a 10 volte più lunga durata rispetto ai tradizionali attuatori piezoelettrici (vedi risultati dell'ultimo test a www.pi.ws / Picma).

PInano ™ serie fasi di posizionamento piezo sono progettati per offrire prestazioni elevate a costi minimi. Per altamente stabile, il funzionamento a circuito chiuso, sensori piezoresistivi si applicano direttamente alla struttura in movimento e misurare con precisione lo spostamento della piattaforma palco. L'elevata sensibilità di questi sensori fornisce un'ottima stabilità di posizione e di reattività e risoluzione nanometrica. Un controller servo proprietaria migliora notevolmente la linearità di movimento rispetto ai tradizionali controller sensore piezoresistivo.

Caratteristiche e Vantaggi

  • Estremamente veloce Step & Settle, Dal 5 msec
  • Profilo basso per una facile integrazione:
  • 20 mm (0,8 ")
  • 100 e 200 micron Campi di viaggio
  • La tecnologia proprietaria: Lifetime Eccezionale causa Picma ® Stack Piezo in ceramica
  • Costi di progettazione a causa di sensori piezoresistivo
  • Compatibile w / Leading acquisizione Pacchetto Software per immagini
  • Controllo a circuito chiuso per la ripetibilità e precisione elevate
  • Controller USB e Software incluso

Esempi di applicazione

  • 3D Imaging
  • Microscopia a scansione
  • Tecnologia Laser
  • Interferometria
  • Metrologia
  • Biotecnologia
  • Micromanipolazione

Last Update: 27. October 2011 06:11

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