这台非常成功的 X 最大 80 探测器现在是可用的为在传输电子显微镜的使用! 此探测器比 TEM 的所有商业可用的 SDD 有多面角显着极大。 X-射线收集的更加快速归结于更加了不起的收集效率和处理 SDD 的功能计数。 当分析 nanoparticles 或者收集 linescans 或 X-射线映射时，请立即参见这个区别。 X 最大 TEM 将增加生产率，无需任意牺牲准确性 - 全部在一个液氮环境里。
福利
X 最大 TEM 提供大区 SDD 探测器的所有好处
探测器技术
- 80mm2 非常有非常好的性能的大区传感器以高计数费率提供数据收集的空前的速度
- 更高的光谱分辨率甚而以高计数费率允许一样低的要素的检测象
- 接受更高的计数费率，无需充斥这台探测器 (即横穿网格棒或厚实的冶金范例)
- 冷却为快速冷静停机和安全性的塞贝克
- 在防止的挡水板后的自动收缩受到高电子通量
大多面角
- 减少在点购买、 linescans 和映射的分析时间
- 处理更高的计数费率，不用精确损失取得在更短的计数时间的更好的结果
- 对 nanoparticles 的分析做更加容易由于增加的收集效率
液氮释放
- 没有需要的更加安全的工作环境用 LN 装载探测器2
- 成本效率 - 没有需要的2 LN
- 需要等待 ‘不温暖’探测器冷却。 X 最大为最准确的分析是稳定的在一些分钟内
功能
- 唯一唯一传感器大区 SDD
- 80mmactive2 区
- 处理量 200,000 cps
- 典型 MnKa 125eV
- 是检测
- 吸尘围绕传感器减少氧气吸收
- 仅处理通道的一脉冲需要
- TEM 的优化几何
- 动力化的幻灯片作为标准