這臺非常成功的 X 最大 80 探測器現在是可用的為在傳輸電子顯微鏡的使用! 此探測器比 TEM 的所有商業可用的 SDD 有多面角顯著極大。 X-射線收集的更加快速歸結於更加了不起的收集效率和處理 SDD 的功能計數。 當分析 nanoparticles 或者收集 linescans 或 X-射線映射時，请立即參見這個區別。 X 最大 TEM 將增加生產率，无需任意犧牲準確性 - 全部在一個液氮環境裡。
福利
X 最大 TEM 提供大區 SDD 探測器的所有好處
探測器技術
- 80mm2 非常有非常好的性能的大區傳感器以高計數費率提供數據收集的空前的速度
- 更高的光譜分辨率甚而以高計數費率允許一樣低的要素的檢測像
- 接受更高的計數費率，无需充斥這臺探測器 (即橫穿網格棒或厚實的冶金範例)
- 冷卻為快速冷靜停機和安全性的塞貝克
- 在防止的擋水板後的自動收縮受到高電子通量
大多面角
- 減少在點購買、 linescans 和映射的分析時間
- 處理更高的計數費率，不用精確損失取得在更短的計數時間的更好的結果
- 對 nanoparticles 的分析做更加容易由於增加的收集效率
液氮釋放
- 沒有需要的更加安全的工作環境用 LN 裝載探測器2
- 成本效率 - 沒有需要的2 LN
- 需要等待 『不溫暖』探測器冷卻。 X 最大為最準確的分析是穩定的在一些分鐘內
功能
- 唯一唯一傳感器大區 SDD
- 80mmactive2 區
- 處理量 200,000 cps
- 典型 MnKa 125eV
- 是檢測
- 吸塵圍繞傳感器減少氧氣吸收
- 仅處理通道的一脈衝需要
- TEM 的優化幾何
- 動力化的幻燈片作為標準