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保護所の研究からのサイファー AFM

ずっと AFM/SPM 工業から新しい何かを粉れもなく期待していますが多くの年については古い技術にだけ微調整を見ました。 ここで保護所の研究は Cypher™ AFM のディケイドにわたる最初の全く新しく小さいサンプル AFM/SPM を導入します。 より多くの機能、より多くの制御、より多くの機能性、より多くのモジュール性およびより多くの解像度 - >20X のより速いスキャンおよび顕著な使い易さとのすべて。

保護所の研究からのサイファーは世界で最も速く、高リゾリューション AFM および機能です:

  • 分また更に時間の代りの秒の画像
  • ほとんどの正確な画像および測定
  • 原子ポイント欠陥の解像度、
  • 使い易さのための自動レーザーおよびフォトダイオードアラインメント

閉じたループの原子解像度

すべての 3 本の斧のセンサーを使用して閉じたループの原子解像度は可能な高リゾリューションおよび最も正確な画像を今日保障します。

サイファー AFM によって、閉じたループの正確さおよび制御および開ループの低雑音の間でもはや選択する必要がありません。 保護所の第三世代の NanoPositioning システム (NPS™) センサーは世界の今日最も静かです。

正確さを X のよくより 60 台の picometers、 Y および Z のまた閉じたループ、の原子解像度を達成するために置くことただによって可能な最も正確な測定、位置および nanomanipulation を得ます。

SpotOn™はレーザーのアラインメントを自動化しました

SpotOn™はレーザーのアラインメントを提供します異常な使い易さを自動化しました。 置いていてサイファーの十分にモーターを備えられたレーザーおよびフォトダイオードがマウスクリックは片持梁のレーザー点を一直線に並べ、光検出機構を集中させます。

より速いスキャン

3µm 小さいレーザーの点サイズのより速いスキャンは小さい片持梁との高速 AC イメージ投射を可能にします。 サイファーは企業で最も小さい点サイズを提供しま、小さい速いイメージ投射および副picoNewton 力の測定のために片持梁をより 10µm 使用することを許可します。

サイファーの専有システムレベルの機械デザイン

サイファーの専有システムレベルの機械デザインはほとんどの実験室の追加隔離の追加項目のための必要性を除去する正常な環境の振動に本来免疫があります。 総合システム機構は熱制御を含み、騒々しい環境に追加音響の隔離を提供します。

このシステムレベルデザインは定期的な騒音がない原子的に平らなサンプルの画像を生成します。 サイファーはまたサンプルおよび実験室スペースを節約する小さい 40x42cm の足跡への妨げられていない 180 度光学/機械アクセスを特色にします。

交換可能なモジュール

交換可能なモジュールはアプリケーションおよび走査方式のためのオプションを広げます。 MultiLux™の原始モジュールは片持梁長さの広い範囲に最適の SN を提供していろいろな点サイズで半導体レーザーおよび低一貫性 SLDs と使用できます。 モジュール交換取得分だけ。

高リゾリューションのトップ眺めの光学

コーラーの照明を用いる高リゾリューションのトップ眺めの光学はサンプルおよび先端の透明な観覧を提供します。 20X 目的のサイファーのカスタム光学は物理的な回折によってだけ限定されます。 デジタルズームレンズおよび鍋との 690x920µm の視野上のミクロ以下の解像度を見ます。

熱制御

サイファーの統合された機構は熱制御およびイメージ投射および測定の安定性を最適化するために音響の隔離を提供します。 より古い、より少なく高度の SPMs と比較される熱ドリフトの >10X の改善を達成して下さい。

Last Update: 15. July 2013 04:44

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