De Toegepaste Sondes van het Silicium Nanostructures

De Toegepaste Sondes van het Silicium Nanostructures

De Toegepaste Sondes van het Silicium Nanostructures zijn beschikbaar in verschillende configuraties zoals lange en korte cantilever voor het onttrekken en niet-contactwijzetoepassingen, multi-cantileversondes voor krachtkaliberbepaling, sondes voor de microscopie van de krachtmodulatie, sondes voor contacttoepassingen en sondes met variërende graden van schuine standcompensatie.

De Toepassingen van de Toegepaste Sondes van het Silicium Nanostructures omvatten:

  • Directe optische mening van het uiteinde AFM
  • Onttrekkend, contacteer en niet-contactwijzetoepassingen
  • De constante kaliberbepaling van de Lente van sondes SPM
  • De Microscopie van de Modulatie van de Kracht
  • Weergave of de Metrologie van de Diepte van de Geul.

Last Update: 11. January 2012 07:58

Other Equipment by this Supplier