De Toegepaste Sondes van het Silicium Nanostructures

De Toegepaste Sondes van het Silicium Nanostructures zijn beschikbaar in verschillende configuraties zoals lange en korte cantilever voor het onttrekken en niet-contactwijzetoepassingen, multi-cantileversondes voor krachtkaliberbepaling, sondes voor de microscopie van de krachtmodulatie, sondes voor contacttoepassingen en sondes met variërende graden van schuine standcompensatie.

De Toepassingen van de Toegepaste Sondes van het Silicium Nanostructures omvatten:

  • Directe optische mening van het uiteinde AFM
  • Onttrekkend, contacteer en niet-contactwijzetoepassingen
  • De constante kaliberbepaling van de Lente van sondes SPM
  • De Microscopie van de Modulatie van de Kracht
  • Weergave of de Metrologie van de Diepte van de Geul.

Last Update: 11. January 2012 07:58

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment