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Röntgendiffraktometer - X'Pert PROMILLIRUTHERFORD von PANalytical

PANalyticals material-Forschung Diffractometer X'Pert ist PROdie flexibelste Anlage, die für Röntgenstrahlbeugungsstudien für erhältlich ist:

  • Wissenschaft und Nanotechnologie des fortgeschrittenen Werkstoffs
  • metrologic Kennzeichnung in der Halbleiterverfahrensentwicklung

Sie kann eine große Auswahl von Anwendungen handhaben, und ist für Dünnfilmanalyseanwendungen wie besonders geeignet:

  • Schwingkurvenanalyse und reziproker Raum-Abbilden
  • Analyse des Reflectometry und der Dünnfilmphase
  • Eigenspannungs- und Beschaffenheitsanalyse

Sowie die nachgewiesene Standardversion der PROMILLIRUTHERFORD Anlage X'Pert, existieren einige spezielle Versionen:

  • auf gleicher Ebene Beugung, zum von Beugung von den Gitterflugzeugen zu messen, die zur Beispieloberfläche senkrecht sind
  • eine erweiterte Version, das Montieren eines Röntgenstrahlspiegels und des hochauflösenden Monochromators erlaubend Inline, die Intensität des Vorfallträgers erhöhend
  • hochauflösende XRD-Analyseanforderungen der Halbleiter, der Dünnfilme und der Industrien des fortgeschrittenen Werkstoffs
  • ein hoch entwickeltes Hilfsmittel für Dünnfilmverfahrensentwicklung

Last Update: 11. January 2012 04:41

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