Posted in | X-Ray Diffractometers

Дифрактометр Рентгеновского Снимка - X'Pert ПРОФЕССИОНАЛЬНЫЙ MRD от PANalytical

Дифрактометр Исследования Материалов X'Pert PANalytical ПРОФЕССИОНАЛЬНЫЙ большинств гибкая система доступная для изучений огибания Рентгеновского Снимка для:

  • наука и нанотехнология предварительных материалов
  • metrologic характеризация в развитии полупроводника отростчатом

Оно может отрегулировать широкий диапазон применений, и специально соответствующ для применений анализа тонкого фильма как:

  • тряся анализ кривого и отображать взаимного космоса
  • анализ рефлектометрии и участка тонкого фильма
  • анализ остаточного усилия и текстуры

Также, как доказанная стандартная версия системы X'Pert ПРОФЕССИОНАЛЬНОЙ MRD, несколько специальных версий существуют:

  • огибание в-плоскости для того чтобы измерить огибание от сетчатых плоскостей которые перпендикулярны к поверхности образца
  • выдвинутая версия позволяющ устанавливать зеркала Рентгеновского Снимка и монохроматора высок-разрешения встроенных, увеличивая интенсивность луча случая
  • требования к анализа высок-разрешения XRD полупроводников, тонких фильмов, и предварительных отраслей перерабатывающей промышленности
  • предварительный инструмент для развития тонкого фильма отростчатого

Last Update: 11. January 2012 04:51

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment