Дифрактометр Исследования Материалов X'Pert PANalytical ПРОФЕССИОНАЛЬНЫЙ большинств гибкая система доступная для изучений огибания Рентгеновского Снимка для:
- наука и нанотехнология предварительных материалов
- metrologic характеризация в развитии полупроводника отростчатом
Оно может отрегулировать широкий диапазон применений, и специально соответствующ для применений анализа тонкого фильма как:
- тряся анализ кривого и отображать взаимного космоса
- анализ рефлектометрии и участка тонкого фильма
- анализ остаточного усилия и текстуры
Также, как доказанная стандартная версия системы X'Pert ПРОФЕССИОНАЛЬНОЙ MRD, несколько специальных версий существуют:
- огибание в-плоскости для того чтобы измерить огибание от сетчатых плоскостей которые перпендикулярны к поверхности образца
- выдвинутая версия позволяющ устанавливать зеркала Рентгеновского Снимка и монохроматора высок-разрешения встроенных, увеличивая интенсивность луча случая
- требования к анализа высок-разрешения XRD полупроводников, тонких фильмов, и предварительных отраслей перерабатывающей промышленности
- предварительный инструмент для развития тонкого фильма отростчатого