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Posted in | X-Ray Diffractometers

PROMILLIRUTHERFORD XL XRD Anlage X'Pert von PANalytical

Das X'Pert PROMILLIRUTHERFORD XL ist eine vergrößerte und verbesserte Version PANalyticals nachgewiesener PROMILLIRUTHERFORD XRD Anlage X'Pert. Indem er Röntgenanalyse während der Verfahrensentwicklungsstufe ermöglicht, stellt das X'Pert PROMILLIRUTHERFORD XL den logischen „nächsten Schritt“ in der Analyse des fortgeschrittenen Werkstoffs dar. Es erzielt dieses mit zwei eindeutigen Produktvorteilen:

  • beenden Sie das Abbilden von Wafers bis 200 mm und das beträchtlich erhöhte Abbilden von Wafers bis 300 mm
  • eine hoch entwickelte, automatische Waferladeroption, die das X'Pert PROMILLIRUTHERFORD XL aktiviert, als „Inwand“ Anlage zu arbeiten, wenn der Wafer belastend von einer Reinraumumgebung und ein zu einer eingebildeten Waferhalterung gelegt ist

Das X'Pert PROMILLIRUTHERFORD XL erfüllt den Bedarf an allen Anwendungstechniken einschließlich: Dünnfilmstudien, Waferabbilden und Druck und Beschaffenheitsanalyse. Dieses macht das X'Pert PROMILLIRUTHERFORD XL extrem effektiv in den Verwendungsgebieten wie: Mittel und Silikon basierten Halbleiter, Nanomaterials und die übergroßen und schweren Proben.

Last Update: 11. January 2012 04:41

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