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Posted in | X-Ray Diffractometers

PRO MRD XL XRD Sistema di X'Pert da PANalytical

Il X'Pert il PRO MRD XL è una versione ingrandetta e migliore di PANalytical di PRO IL MRD XRD sistema provato del X'Pert. Facilitando l'analisi di Raggi X durante la fase dello sviluppo trattato, il X'Pert il PRO MRD XL rappresenta “il punto seguente„ logico nell'analisi di materiali avanzati. Raggiunge questo con due vantaggi unici del prodotto:

  • completi la mappatura dei wafer fino a 200 millimetri e la mappatura significativamente migliorata dei wafer fino a 300 millimetri
  • un'opzione specializzata e automatica dell'addetto al caricamento del wafer che permette al X'Pert il PRO MRD XL di funzionare come sistema “della in-parete„, con il wafer che è caricato da un ambiente della stanza pulita e collocato sopra ad un supporto presuntuoso del wafer

Il X'Pert il PRO MRD XL soddisfa l'esigenza di tutte le tecniche dell'applicazione compreso: studi della pellicola sottile, mappatura del wafer e sforzo ed analisi di tessitura. Ciò rende al X'Pert il PRO MRD XL estremamente efficace nei campi di applicazione come: il composto ed il silicio hanno basato i semiconduttori, i nanomaterials ed i campioni surdimensionati e pesanti.

Last Update: 11. January 2012 04:42

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