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Posted in | X-Ray Diffractometers

從 PANalytical 的 X'Pert 讚成 MRD XL XRD 系統

X'Pert 讚成 MRD XL 是 PANalytical 的證明的 X'Pert 讚成 MRD XRD 系統的一個擴大的和被改進的版本。 通過實現在工藝過程開發階段期間的 X 光分析, X'Pert 讚成 MRD XL 表示邏輯 『下一個步驟』在高級材料分析。 它達到此與二個唯一產品好處:

  • 完成映射薄酥餅 200 mm 和顯著改進的映射薄酥餅 300 mm
  • 使 X'Pert 讚成 MRD XL 功能作為一個 『牆壁』系統,当這個薄酥餅被裝載從一個潔淨室環境和被安置對一個自我中心的薄酥餅持有人的一個複雜,自動薄酥餅裝入程序選項

X'Pert 讚成 MRD XL 適應對所有應用技術的需要包括: 薄膜研究,薄酥餅映射和重點和紋理分析。 這使 X'Pert 讚成 MRD XL 十分有效在應用程序方面例如: 化合物和硅根據半導體、 nanomaterials 和太大和大量範例。

Last Update: 23. January 2012 03:54

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