粉と粒度分析 - SALD - 7101島津製作所から

粉と粒度分析 - SALD - 7101島津製作所から

SALD - 7101粉体と粒径分析器は、 375 nmの紫外半導体レーザーを採用することを世界で初めてです。これは、ナノテクノロジーと生命科学の研究と開発のための優れた新しいツールを提供しています。

機能

の特徴SALD - 7101粉と粒子サイズのアナライザは次のとおりです。

  • 検出の10nmの下限
    検出の前に到達不能10nmの下限値は、最新の生産により作成された高感度の光受容体で構成される世界初の375 nmの波長の紫外線半導体レーザ光源と光センサーの組み合わせによって達成されるUVレーザーを処理するために特別に処理します。
  • 20%に数ppmから濃度を測定
    数ppmから20%までの濃度の非常に広い範囲にわたって、SALD - 7101許可の測定は、他の楽器に比べて。微粒子の粒径は、特にナノ粒子、濃度によって異なります。濃度を変えることながら、ナノ粒子の分散と凝集を観察することができます。
  • 1秒の最小の測定時間
    測定時間の標準設定は10秒ですが、1秒の最小に抑えることができます。粒径分布は、1秒間隔でリアルタイムに表示することができます。この機能は、切り替えと広角検出方法を必要としない単一の光源を使用することによって許可されます。
  • 光学システムのスリット
    単一の測定原理、単一の光学系、および単一の光源を使用して範囲全体にわたってシームレスに測定。 SLIT光学系は、連続して単一の検出面上60 °、最大で前方散乱光を取り込みます。正確な粒度分布測定は、測定器はデータの不連続を作成する複数の光学系が組み込まれていないとして、単一の標準を使用して、全測定範囲にわたって可能です。
  • ソフトウェア
    Windows 2000/XP用WingSALD - 7101は、簡単で迅速な操作性を持つ関数を処理するデータのさまざまな組み合わせ。ソフトウェアは、異なる目的や処理の要件に合わせて三つの"翼"(サブプログラム)に分割されています。

Last Update: 5. October 2011 20:39

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