NTEGRA Spectra - AFM / Konfokal Raman & Fluorescens / SNOM / breve fra NT-MDT

Den NTEGRA SPECTRA er en unik integration af Scanning Probe Microscope og konfokal mikroskopi / luminescens og Raman spredning spektroskopi. På grund af effekten af ​​store spids forstærket Raman spredning det giver mulighed for at udføre Raman spektroskopi og få billeder med en opløsning på op til 50 nm.

Kun NTEGRA Spectra giver fuldt tekniske integreret med en Renishaw spektrometer løsning i form af software, hardware og koncept for tværfaglig videnskab på det molekylære niveau. Som følge af en sådan forening, kan forskerne opnå optimal effektivitet og mere tid til undersøgelser, som giver dig mulighed for at fokusere på dataindsamling og analyse. Så det er sikkert at sige: reel integration er bedre end bare en kombination.

Konfokal optisk mikroskopi / spektroskopi systemet
Den NTEGRA Spectra nanolaboratory er et system, der kombinerer en konfokal scanning laser spektrometer, optisk mikroskop og universelle scanning probe mikroskop. Systemet er i stand til at arbejde i den måde, registrering af rumlige 3D fordeling af luminescens spektrum og Raman lysspredning, samt forskellige scanning probe mikroskopi tilstande, der omfatter nanoindentation, nanomanipulation og nanolithography.

Scanning probe mikroskopi-system
Sammen med den optiske observation, NTEGRA Spectra tillader at undersøge objektet med et sæt af SPM metoder: AFM, MFM, STM, Scanning nær-felt optisk mikroskopi, Force spektroskopi. Den unikke kombination af optisk og probe metoder i én enhed gør det muligt at udføre komplekse eksperimenter, som vil give forskeren med oplysninger om fordelingen af ​​optiske egenskaber og objektets kemi overlappede med den mekaniske, elektriske og magnetiske egenskaber data.

System til undersøgelse af optiske egenskaber ud over den diffraktion grænse
Kendetegnende for NTEGRA nanolaboratory er muligheden for at studere optiske egenskaber af objekter ud over de diffraktion grænser. Scanning nær-felt optisk mikroskopi og effekten af ​​lokale spids forstærket Raman spredning giver forskeren med de værktøjer til at kortlægge de optiske egenskaber distribution (lystransmission, lysspredning, polarisering af lys, osv.) samt udføre Raman spredning spektroskopi med flade XY opløsning på op til 50 nm.

Last Update: 6. October 2011 17:37

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment