NTEGRA Spectra - AFM / confocal Raman & Fluoresensi / SNOM / Ters dari NT-MDT

Para SPECTRA NTEGRA merupakan integrasi unik dari mikroskop Probe dan spektroskopi confocal mikroskop / luminescence dan hamburan Raman. Karena efek hamburan Raman ujung besar ditingkatkan memungkinkan melakukan spektroskopi Raman dan memperoleh gambar dengan resolusi hingga 50 nm.

Hanya Spektrum NTEGRA menyediakan teknis yang terintegrasi penuh dengan larutan spektrometer Renishaw dalam hal perangkat lunak, perangkat keras, dan konsep untuk ilmu pengetahuan interdisipliner pada tingkat molekuler. Sebagai hasil dari serikat pekerja tersebut, peneliti dapat memperoleh efisiensi yang optimal dan lebih banyak waktu untuk investigasi yang memungkinkan Anda untuk fokus pada pengumpulan data dan analisis. Jadi aman untuk mengatakan: integrasi nyata lebih baik dari sekedar kombinasi.

Confocal mikroskop optik / sistem spektroskopi
Para Spektrum NTEGRA nanolaboratory adalah sistem yang menggabungkan laser spektrometer scanning confocal, mikroskop optik dan mikroskop scanning probe universal. Sistem ini mampu bekerja dalam modus pendaftaran distribusi spasial 3D dari spektrum luminescence dan hamburan cahaya Raman, serta berbagai mode mikroskop scanning probe yang meliputi nanoindentation, nanomanipulation dan nanolithography.

Sistem pemindaian probe microscopy
Seiring dengan pengamatan optik, Spektrum NTEGRA memungkinkan menyelidiki objek dengan seperangkat metode SPM: AFM, MFM, STM, Scanning Hampir-bidang Mikroskopi Optik, spektroskopi Angkatan. Kombinasi unik dari metode optik dan probe dalam satu perangkat memungkinkan melakukan eksperimen yang kompleks, yang akan memberikan peneliti dengan informasi tentang distribusi sifat optik dan kimia objek tumpang tindih dengan, data mekanik sifat listrik dan magnetik.

Sistem penyelidikan sifat optik yang melampaui batas difraksi
Fitur yang membedakan NTEGRA nanolaboratory adalah kemampuan mempelajari sifat optik dari objek di luar batas difraksi. Hampir-bidang pemindaian Mikroskopi Optik dan efek dari ujung lokal hamburan Raman ditingkatkan menyediakan peneliti dengan alat untuk pemetaan distribusi sifat optik (transmisi cahaya, hamburan cahaya, polarisasi cahaya, dll) serta melaksanakan hamburan Raman spektroskopi dengan datar XY resolusi hingga 50 nm.

Last Update: 4. October 2011 19:38

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment