NTEGRA 스펙트럼 - AFM / 공촛점 라만 & 형광 / SNOM / NT - 산악 서머 타임에서 TERS

NTEGRA 스펙트럼은 프로브 현미경과 공촛점 현미경 / 발광과 라만 산란 분광법을 검사의 독특한 통합이다. 때문에 엄청난 팁 향상 라만 산란의 효과는 라만 분광을 수행하고 최대 50 nm의 해상도로 이미지를 획득하실 수 있습니다.

오직 NTEGRA 스펙트럼은 분자 수준에서 학제 과학 소프트웨어, 하드웨어 및 개념 측면에서 Renishaw 분광계 솔루션과 통합 완전히 기술을 제공합니다. 이러한 연합의 결과로, 연구진은 최적의 효율성 및 데이터 수집과 분석에 초점을 수 있도록 수사 더 많은 시간을 얻을 수 있습니다. 그렇게 말씀으로 안전하다 : 실제 통합은 단순한 조합보다 낫다.

공촛점 광학 현미경 / 분광 시스템
NTEGRA 스펙트럼의 nanolaboratory는 공촛점 스캐닝 레이저 분광계, 광학 현미경과 보편적인 스캐닝 프로브 현미경을 결합 시스템입니다. 시스템은 발광 스펙트럼과 라만 산란 빛뿐만 아니라, nanoindentation, nanomanipulation 및 nanolithography을 포함 다양한 스캐닝 프로브 현미경 모드의 공간 3D 분배 등록 모드에서 작업이 가능합니다.

프로브 현미경 시스템을 스캔
광학 관측과 함께, NTEGRA 스펙트럼은 가까운 필드 광학 현미경, 힘 분광법을 스캐닝, AFM, MFM, STM : SPM 방법의 집합 개체를 조사 수 있습니다. 한 장치의 광학 및 프로브 방식의 독특한 조합은 기계, 전기 및 자기 특성 데이터와 overlapped 광학 특성의 분포에 대한 정보와 개체의 화학 같이 연구자를 제공합니다 복잡한 실험을 수행하실 수 있습니다.

회절 한계 이상의 광학 특성을 조사 시스템
의 특징 NTEGRA nanolaboratory은 회절 한계를 넘어 개체의 광학 특성을 연구의 능력입니다. 가까운 필드 광학 현미경 및 지방 팁 강화 라만 산란의 효과를 스캔하면 광학 특성 분포를 (조명 전송, 가벼운 산란, 빛의 편광 등) 매핑뿐만 아니라 평면과 라만 산란 분광법을 수행을위한 도구와 연구자를 제공합니다 최대 50 NM에 XY 해상도.

Last Update: 6. October 2011 04:00

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