Спектры NTEGRA - AFM/Confocal Raman & Флуоресцирование/SNOM/TERS от NT-MDT

Спектры NTEGRA - AFM/Confocal Raman & Флуоресцирование/SNOM/TERS от NT-MDT

Спектры NTEGRA уникально внедрение Микроскопа Зонда Скеннирования и confocal микроскопии/люминесценции и Raman разбрасывая спектроскопию. Вследствие влияния огромной Raman увеличенного подсказкой разбрасывать его позволяет унести спектроскопию Raman и получить изображения с разрешением до 50 nm.

Только Спектры NTEGRA обеспечивают польностью техническое интегрированное с разрешением спектрометра Renishaw оперируя понятиями ПО, оборудования, и принципиальной схемы для междисциплинарной науки на молекулярном уровне. В результате такого соединения, исследователя могут получить оптимальную эффективность и больше времени для исследований которые позволяют вам сфокусировать на сборе данных и анализе. Так безопасно сказать: реальное внедрение более лучшее чем как раз комбинация.

Загрузите Брошюру для Больше Информации

Confocal оптически система микроскопии/спектроскопии
Спектры NTEGRA nanolaboratory система которая совмещает confocal просматривая спектрометр лазера, оптически микроскоп и всеобщий микроскоп зонда скеннирования. Система работоспособна в режиме зарегистрирования пространственного распределения 3D спектра люминесценции и разбрасывать Raman светлого, так же, как различных режимах микроскопии зонда скеннирования которые включают nanoindentation, nanomanipulation и nanolithography.

Просматривая система микроскопии зонда
Вместе с оптически замечанием, Спектры NTEGRA позволяют расследовать предмет с комплектом методов SPM: AFM, MFM, STM, Просматривая Микроскопия Близко-Поля Оптически, спектроскопия Усилия. Уникально сочетание из оптически и методы зонда в одном приборе позволяют унести сложные эксперименты, которые обеспечат исследователя с информацией на распределении оптически свойств и химии предмета, котор перекрыли с данными по механически, электрических и магнитных свойств.

Система для исследования оптически свойств за пределом огибания
Отличительная черта Спектра NTEGRA nanolaboratory возможность изучать оптически свойства предметов за пределами огибания. Микроскопия Близко-Поля Скеннирования Оптически и влияние местный увеличенный подсказкой разбрасывать Raman обеспечивают исследователя с инструментами для отображать распределение оптически свойств (светлую передачу, светлый разбрасывать, светлую поляризацию, Etc.) так же, как уносить Raman разбрасывая спектроскопию с плоским XY разрешением до 50 nm.

Применения

Характеризация батарей лити-иона с AFM-Raman

Батареи Лития, источник питания для много портативных приборов как мобильные телефоны, компьтер-книжки, камкордеры, Etc. также использованы в электрических кораблях и космических и воинских применениях. Развитие батарей лития выдвигается быстро.

Самые ценные методы для структурной характеризации электродов в перезаряжаемых батареях лития спектроскопия Raman и атомная микроскопия усилия (AFM). Это на примечание по применению представлено характеризацию катода2 LiCoO используя AFM и методов Raman на Спектрах NTEGRA от NT-MDT. Изображения AFM и Raman от такой же зоны образца захвачены одновременно.

Поверхностный анализ фармацевтических таблиц с AFM-Raman

Внедрение спектроскопии Raman с атомной микроскопией усилия раскрывает обширный ряд новых возможностей в воображении и характеризацию фармацевтических продуктов.

Топография AFM предлагает информацию на размере зерна, форме, ориентации и распределении, пока анализ Raman включает идентификацию функциональных групп, химических смесей и молекулярных conformers.

Совмещать эти 2 метода создает мощное аналитическое средство, позволяющ большое количество данных быть собранным на фармацевтических продуктах внутри одиночная аппаратура.

Анализ фотоэлементов multi-соединения с совмещенным AFM и confocal оптически спектроскопией

фотоэлементы Multi-Соединения основанные на nanoheterostructures имеют некоторые из наблюдаемых наибольших мощностей. Клетки состоят из нескольких слоев различных материалов полупроводника, уменьшая в энергии bandgap от фоточувствительной поверхности к субстрату.

Каждый слой захватывает энергию от различного этапа солнечного спектра, приводящ к в очень высоких полных производительностях - однако, полная производительность ограничена плох-выполняя слоем, и характеризовать поведение индивидуальных слоев в-situ может быть трудный.

Это изучение показало что Спектры NTEGRA можно использовать для того чтобы контролировать представление каждого subcell отдельно. Включение возможностей AFM позволяет гораздо обширнее комплект диагностических данных быть собранным на образце сравненном к использованию оптически методов спектроскопии самостоятельно.

Ключевые издания

  1. Воображение Nanoscale Химическое Используя Верхн-Освещение Подсказк-Увеличило Спектроскопию Raman. J. Stadler, T. Schmid, и R. Zenobi, Nano Письма (2010) J. Stadler, T. Schmid, R. Zenobi, Nano Письма (2010)

  2. Находить игла в химическом haystack: подсказк-увеличенный Raman разбрасывая для изучать смеси nanotubes углерода. A. Chan & S. Kazarian, Нанотехнология 21 (2010) A. Chan, S. Kazarian, Нанотехнология 21 (2010)

  3. Воображение Nanoscale Химическое Однослойного Graphene. J. Stadler, T. Schmid, R. Zenobi, Общество Американского Химиката, 2011

  4. Анализ Воображения и напряжения структур SiGe nano-маштаба подсказк-увеличенной спектроскопией Raman. P. Hermann, M.Hecker, D. Chumakov, et al., Ultramicroscopy, 2011

  5. Nanotubes Углерода ухудшенные myeloperoxidase нейтрофила наводят меньше легочного воспаления. V.Kagan, N. Konduru, W. Feng, et al., Нанотехнология Природы, 2010

Last Update: 13. January 2015 12:49

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier