NTEGRA譜是一個獨特的集成掃描探針顯微鏡和共聚焦顯微鏡/發光和拉曼散射光譜。由於巨大的針尖增強拉曼散射的影響，它允許開展拉曼光譜，獲得的圖像分辨率可達 50納米。
只有NTEGRA光譜提供了充分的技術集成與Renishaw的光譜儀的解決方案，在軟件，硬件和跨學科的科學概念，在分子水平上。作為一個這樣的聯盟結果，研究人員可以得到最佳的效率和更多的時間，讓你把重點放在數據收集和分析的調查。所以它是安全的，說：真正的融合不僅僅是一個組合更好。
共焦光學顯微鏡/光譜系統
NTEGRA光譜 nanolaboratory是一個系統，結合共焦掃描激光光譜儀，光學顯微鏡和通用的掃描探針顯微鏡。該系統能夠在登記發光光譜和拉曼散射光，以及各種掃描探針顯微鏡模式，包括納米壓痕，納米操縱和納米光刻技術的三維空間分佈模式工作。
掃描探針顯微鏡系統
隨著光學觀測， NTEGRA光譜允許調查對象SPM的方法：原子力顯微鏡，MFM，STM，掃描近場光學顯微鏡，光譜儀隊。獨特的組合在一台設備的光學和探測方法，可以進行複雜的實驗，這將提供信息的光學特性的分佈和重疊的機械，電氣和磁學性質的數據對象的化學研究員。
超越衍射極限的光學特性調查系統
NTEGRA nanolaboratory的顯著特點是研究超越衍射極限的對象的光學性質的能力。掃描近場光學顯微鏡和當地針尖增強拉曼散射效應與映射的光學特性分佈（光傳輸，光散射，光偏振等），以及開展與平坦的拉曼散射光譜工具的研究人員提供XY分辨率可達 50納米。