Site Sponsors
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Système de Préparation des Échantillons de ShortCut™ d'Omniprobe

L'outil Court-Cut™ externe est un élément important de la solution intégrée d'AutoProbe™ 300. Le Court-Cut™ accomplit ex situ la connexion rapide et facile de l'échantillon d'extraction à un réseau de TEM. Cette phase améliore grand l'utilisation de BOBARD puisqu'on élimine la phase in-situ ancienne d'attache de réseau. Ex situ le procédé Court-Cut™ d'attache témoin est simple et fiable. Soulevez les échantillons sont d'abord fixés aux pointeaux de sonde utilisant Omniprobe breveté soulèvent la méthode. L'extrémité de sonde est alors retirée du BOBARD et présentée à l'outil Court-Cut™. Avec la poussée simple d'un bouton, le pointeau de sonde, avec la lamelle jointe, est automatiquement aligné et transféré à un réseau de TEM. En Attendant le BOBARD, qui a ancien rempli ce fonctionnement, a été libéré et peut être utilisé pour d'autres tâches d'analyse.

Fonctionnalités Clé :

  • Simplifiez la Préparation Témoin de S/TEM
  • Éliminez le Temps de BOBARD pour la Connexion de Réseau
  • Exécutez le Fraisage Rapide de Postérieur
  • Activez l'Analyse de Sonde d'Atome
  • Produisez les Échantillons de Tomographie

Last Update: 14. January 2013 06:38

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment