Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

Het Systeem van de Voorbereiding van de Steekproef van ShortCut™ van Omniprobe

Het externe hulpmiddel kort-Cut™ is een belangrijke component van AutoProbe™ 300 geïntegreerde oplossing. Kort-Cut™ verwezenlijkt snelle en gemakkelijke gehechtheid van optilt ex situ steekproef aan een net TEM. Deze stap verbetert zeer LIEGT gebruik aangezien het vroegere net in situ stap wordt geëlimineerd vastmaakt. De steekproef kort-Cut™ maakt ex situ proces vast is eenvoudig en betrouwbaar. Til steekproeven op zijn eerst in bijlage aan de sondenaalden gebruikend gepatenteerde Omniprobe optillen methode. Het sondeuiteinde wordt dan verwijderd uit FIB en aan het hulpmiddel kort-Cut™ voorgesteld. Met de eenvoudige duw van een knoop, wordt de sondenaald, met lamel in bijlage, automatisch en gericht gebracht naar een net TEM over. Ondertussen is FIB, die vroeger deze functie uitoefende, bevrijd omhoog en gekund voor andere analysetaken worden gebruikt.

Zeer Belangrijke Eigenschappen:

  • Vereenvoudig Prep Steekproef S/TEM
  • Elimineer LIEGEN Tijd voor de Gehechtheid van het Net
  • Voer het Snelle Malen van het Achtereind uit
  • Laat de Analyse van de Sonde van het Atoom toe
  • Creeer de Steekproeven van de Tomografie

Last Update: 14. January 2013 06:38

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment