Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Система Подготовки Образца ShortCut™ от Omniprobe

Внешний Короткий-Cut™ инструмент важный компонент комплексного решения проблемы AutoProbe™ 300. Короткая-Cut™ выполняет быстрое и легкое ex-situ приложение образца подъема-вне к решетке TEM. Этот шаг значительно улучшает использование FIB в виду того что исключено бывшее в-situ шаге attach решетки. Короткий-Cut™ ex-situ процесс attach образца прост и надежн. Образцы Подъема-вне сперва прикреплены к иглам зонда используя метод подъема-вне Omniprobe запатентованный. Подсказка зонда после этого извлекается от FIB и приведена к Короткому-Cut™ инструменту. С простым нажимом кнопки, игла зонда, при прикрепленная ламелла, автоматически выровняна и перенесена к решетке TEM. Между Тем FIB, который в прошлом выполнил эту функцию, был освобожен вверх и может быть использован для других задач анализа.

Главные Особенности:

  • Упростите Приготовление Уроков Образца S/TEM
  • Исключите Время FIB для Приложения Решетки
  • Исполните Быстрый Филировать Задней Стороны
  • Включите Анализ Зонда Атома
  • Создайте Образцы Томографии

Last Update: 14. January 2013 06:40

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment