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SIGMA Scannen-Elektronenmikroskope von Carl Zeiss

Das SIGMA, GEMINI®-Technologie kennzeichnend liefert hervorragende Darstellung und analytische Ergebnisse von einem Bereichemissionsmikroskop.

Das SIGMA ist jetzt mit variabler Drucktechnologie (VP) für außergewöhnliche Darstellung und Analyse des nicht leitfähigen Probenmaterials erhältlich. Es ist mit einem Reichtum von Zubehör einschließlich die Klasse kompatibel, die Carl Zeiss BD- und VPSE-G3 Detektoren für überlegenen Materialkontrast führen und SE-Darstellung in VP.

SIGMA SchlüsselNutzen

Analytische Plattform

  • Simultane EDS- und EBSD-Analyse
  • Universal-WDS-Anschluss als Standardlieferungsflexibilität für eine umfassende Reichweite der acces
  • sories Dehnten Stufenarbeitsweg für das Handhaben des großen Probenmaterials aus
  • Klassenführung analytisch und Röntgenstrahlgeometrie

Bestes in der Klassendarstellung mit GEMINI®-Technologie

  • Hervorragende Darstellung und Benutzerfreundlichkeit unter Verwendung der Spalte der Hochleistung GEMINI®
  • Hoher Reinheitsgrad, In-Objektiv, SE-Befund für wahre Oberflächendarstellung
  • Ausgezeichnete Darstellung an den Niederspannungen für empfindliches und nicht leitendes Probenmaterial des Trägers
  • Untersuchung von magnetischen Proben mit GEMINI®-Objektivauslegung für Verzerrung geben Darstellung frei

Benutzerfreundlichkeit

  • Eindeutige Spaltenauslegung, die ebenso großartige Darstellung für Experten und Anfänger bereitstellt
  • Hoch entwickelte Navigation, zulassend hohe Produktivität und Durchsatz
  • SmartSEM®-Schnittstelle für intuitive Bedienung SEMS

FESEM, das konkurrenzlose Vielseitigkeit bereitstellt

  • Hoch entwickelte VP-Technologie für außergewöhnliche Darstellung und Analyse des nicht leitfähigen Probenmaterials
  • Nahtlose Schaltung zwischen Hochvakuum und variablem Druck Staub saugen Modi
  • Ausbaufähigkeit mit großer Reichweite Carl Zeiss-Detektoren

Last Update: 15. August 2012 06:08

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