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Microscopes Électroniques de Lecture de SIGMA de Carl Zeiss

Le SIGMA, comportant la technologie de GEMINI® fournit la représentation en suspens et les résultats analytiques d'un microscope d'émission de champ.

Le SIGMA est maintenant disponible avec la technologie variable (VP) de pression pour la représentation et l'analyse exceptionnelles du spécimen non-conducteur. Il est compatible avec une quantité d'accessoires comprenant le type des détecteurs aboutissant de Carl Zeiss de SCHÉMA et de VPSE G3 pour le contraste supérieur de matériaux et la représentation d'EXPERT EN LOGICIEL dans le VP.

Avantages Principaux de SIGMA

Plate-forme Analytique

  • Analyse Simultanée d'EDS et d'EBSD
  • Port Universel de WDS en tant que souplesse de fourniture normale pour une gamme complète d'acces
  • le stade Étendu par sories se déplacent pour la manipulation du grand spécimen
  • Aboutir de Type analytique et la géométrie de Rayon X

Meilleur dans la représentation de type avec la Technologie de GEMINI®

  • Représentation et simplicité d'utilisation En Suspens utilisant le fléau de la haute performance GEMINI®
  • Grande pureté, Dans-Lentille, dépistage d'EXPERT EN LOGICIEL pour la véritable représentation extérieure
  • Excellente représentation à de basses tensions pour le spécimen sensible et non conducteur de poutre
  • L'Enquête sur les échantillons magnétiques avec le design de lentille objective de GEMINI® pour la déformation libèrent la représentation

facilité d'utilisation

  • Seul design de fléau fournissant la représentation superbe pour des experts et des débutants de même
  • Navigation Avancée tenant compte de la productivité et du débit élevés
  • Surface Adjacente de SmartSEM® pour le fonctionnement intuitif du SEM

FESEM fournissant la souplesse incomparable

  • Technologie Avancée de VP pour la représentation et l'analyse exceptionnelles du spécimen non-conducteur
  • La commutation Sans Joint entre le vide poussé et la pression variable nettoient à l'aspirateur des modes
  • Amélioration avec la chaîne étendue des détecteurs de Carl Zeiss

Last Update: 15. August 2012 06:08

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