Mikroskop för SIGMAScanningElektron från Carl Zeiss

Mikroskop för SIGMAScanningElektron från Carl Zeiss

SIGMAEN som presenterar GEMINI®-teknologi, ger utstående avbilda och analytiska resultat från ett sätta inutsläppmikroskop.

SIGMAEN är tillgänglig med variabel pressar nu (VP) teknologi för ovanlig avbilda och analys av det icke-ledande prov. Den är kompatibel med en rikedom av tillbehör däribland klassificera som leder Carl Zeiss BSD, och avkännare för VPSE G3 för överlägsna material kontrasterar och SE som avbildar i VP.

Den Nyckel- SIGMAEN Gynnar

Analytisk Plattform

  • Samtidig EDS- och EBSD-analys
  • Universell WDS-port som standard geende böjlighet för ett omfattande spänner av acces
  • Fördjupade sories arrangerar reser för bruk av det stora prov
  • Klassificera att leda som är analytiskt och, Röntga geometri

Bäst klassificera in att avbilda med GEMINI®-Teknologi

  • Utstående avbilda och lindrar - av - bruk genom att använda kolonnen för kickkapaciteten GEMINI®
  • Kickrenhet, I-Lens, SE-upptäckt för riktigt ytbehandlar att avbilda
  • Utmärkt avbilda på låga spänningar för strålar känsligt och non-att föra prov
  • Utredning av magnetiskt tar prov med den sakliga linsdesignen för GEMINI® för fritt avbilda för distorsion

lindra - av - bruk

  • Unik kolonndesign som ger superb avbilda för både likadana experter och noviser
  • Avancerad Navigering låta för kickproduktivitet och genomgång
  • SmartSEM® Har Kontakt för den intuitiva funktionen av SEM 2000

FESEM som ger unrivaled versatility

  • Avancerad VP-teknologi för ovanlig avbilda och analys av det icke-ledande prov
  • Seamless växling mellan kicken dammsuger, och variabeln pressar dammsuger funktionslägen
  • Upgradeability med stort spänner av Carl Zeiss avkännare

Last Update: 15. August 2012 06:10

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier