Η XE-NSOM είναι ειδικά σχεδιασμένο και προσαρμοσμένο για τις προηγμένες οπτικές μετρήσεις συμπεριλαμβανομένων κοντινού πεδίου σάρωσης Οπτική Μικροσκοπία (NSOM) και Raman φασματομετρία. Η XE-NSOM προσφέρει μια πλήρη εγκατάσταση του συστήματος AFM με πρωτοφανή προσαρμοστικότητα για αυτά τα οπτικά πειράματα. Η υψηλής απόδοσης Z-σερβο scanner της XE-NSOM υποστηρίζει True μη Επικοινωνία ΑΦΜ και χρησιμοποιεί cantilever με βάση κλειστού βρόχου τεχνολογία ανάδρασης.
Χαρακτηριστικά
- Απρόσκοπτη ενσωμάτωση του Α.Φ.Μ. και οπτικές μετρήσεις
- Δυνατότητα αναβάθμισης αρθρωτό σχεδιασμό υποστηρίζει AFM, NSOM και Φασματοσκοπία Raman
- Ευελιξία για την υποστήριξη διαφόρων προβληματισμό / μετάδοση τρόπων
- Οπτική σχεδίαση της κεφαλής παρέχει εύκολη πρόσβαση σε πειραματικό δείγμα
- Εύκολη ευθυγράμμιση των οπτικών αξόνων στο φωτόνιο σύστημα ανίχνευσης